[发明专利]一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法

权利要求书

1.一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于包括：

在电容触摸屏的基板上设有触控区和周边区，触控区设有电极组，电极组包括M个感应电极；周边区设有至少一个信号线及选通电路，选通电路的主体为一M×N的TFT阵列，TFT阵列可分为M个TFT行或N个TFT列，每一TFT行包括N个以源极、漏极首尾串联的TFT，每个感应电极通过一TFT行与相应的信号线连接；每一TFT列均配有第一控制线与第二控制线，其TFT可分为第一TFT和第二TFT，第一TFT、第二TFT的栅极分别与第一控制线、第二控制线连接，不同列的第一TFT与第二TFT具有不同的布置；以及，

通过如下步骤对手指的触摸位置及触摸动作进行探测：

步骤(1)通过各TFT列的第一控制线与第二控制线的电平输入来控制各个TFT的开关状态，实现信号线与相应的某个或某些感应电极导通，以此使电容触摸屏的某个或某些感应电极处于输入或输出状态；

步骤(2)采用基于电容原理的外部探测电路与信号线电连接，探测上述处于输入或输出状态的感应电极的响应；

步骤(3)根据步骤(2)的探测结果分析得出手指的触摸位置及触摸动作。

2.根据权利要求1所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：定义某TFT列的第一TFT和第二TFT的所处TFT行分别为其第一行集合和第二行集合，通过第一控制线与第二控制线的选择性搭接，使得各TFT列任取第一行集合或第二行集合，其所构成的交集均仅包含一个TFT行。

3.根据权利要求2所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：所述TFT阵列的列数N与行数M的关系为：2^(N-1)＜M≤2^N。

4.根据权利要求3所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：以不大于N的非零自然数n对TFT阵列的各列进行标识，第n列的第一TFT和第二TFT以连续个数为2^n-1交错排列。

5.根据权利要求1所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：所述感应电极的数量M=2^N，N为不小于3的自然数。

6.根据权利要求1所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：所述TFT为低温多晶硅薄膜晶体管或氧化物薄膜晶体管。

7.根据权利要求1-6任一项所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：在所述步骤（1）-（3）中采用多次分组的方式对电容触摸屏的各个感应电极进行探测，根据各次分组的探测结果分析得出手指的触摸位置及触摸动作。

8.根据权利要求7所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：分组探测的方式具体为：（a）定义M'=2^N，对M'个感应电极进行N种分组，其中在第k(1≤k≤N)种分组中，感应电极被分为以连续个数2^k-1交错排列的第一电极和第二电极；（b）在检测周期T内进行2N次检测，定义k为不大于N的非零自然数，在第2k-1次检测中对第k种分组的第一电极进行检测，而在第2k次检测中对第k种分组的第二电极进行检测；（c）根据各次检测的结果，分析出手指所触碰的各个感应电极。

9.根据权利要求8所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：在所述步骤(b)中记录下各次有响应的探测，并在所述步骤(c)中计算其电极分组的交集，得到手指的触碰位置。

10.根据权利要求1-6任一项所述的一种基于寻址的电容触摸屏触控检测方法，其特征在于：多个所述感应电极分为X电极组和Y电极组，X电极组包括沿X轴平行布置的多个X电极，Y电极组包括沿Y轴平行布置的多个Y电极，各个X电极与各个Y电极交叉设置在一个工作面上。