[发明专利]一种顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法在审
申请号: | 202110895544.9 | 申请日: | 2021-08-05 |
公开(公告)号: | CN113687352A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 闫贺;侯倩茹;王旭东;张劲东;朱岱寅 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 施昊 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉 合成孔径雷达 海表流场 反演 方法 | ||
1.一种顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)构建流场图和对应干涉相位图作为训练集;
(2)构建基于pix2pix算法的海表流场反演模型,并使用训练集对该模型进行训练;所述海表流场反演模型包括生成器和判别器,所述生成器采用U-Net结构;所述判别器采用条件判别器PatchGAN结构;训练模型的优化器采用Adam优化器;
(3)将测试集中不同系统参数、不同仿真场下的干涉相位图输入到训练完毕的海表流场反演模型,得到对应的海表流场。
2.根据权利要求1所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,在步骤(1)中,构建流场图的方法如下:
通过下载OSCAR实时海洋表层流数据,将k个流场数据文件使用matlab中imagesc函数进行处理得到k个流场图,该数据是由卫星高度计数据、QuickSCAT风场资料以及温度场数据联合反演得到的海表流场,构建k个N*N的流场图,N为正整数。
3.根据权利要求2所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,在步骤(1)中,构建流场图对应的干涉相位图的方法如下:
使用海面微波成像仿真模型:M4S模型,根据给定的输入海洋流场和海面风场,基于海面组合表面模型基础上建立的波-流交互模型,生成相应的海浪谱后,再根据给定的雷达系统参数,生成不同雷达波段、极化方式、入射角、基线长度等参数下的顺轨干涉相位图,将k个流场图输入M4S模型中得到与之对应的干涉相位图,即k个phs.bin文件,对phs.bin文件进行二进制可视化处理。
4.根据权利要求3所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,对phs.bin文件进行二进制可视化处理的方法如下:
使用matlab读取phs.bin文件后,采用浮点数读数方式读出N*N的矩阵,再使用imagesc函数对矩阵进行可视化处理得到对应的干涉相位图。
5.根据权利要求2所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,在步骤(2)中,所述生成器包括编码器和解码器,所述编码器包括卷积操作和下采样操作,通过i次卷积操作和下采样操作,将大小为N*N的输入干涉相位图处理为的特征提取图;所述解码器包括卷积操作、上采样操作和跳跃连接,所述上采样操作采用双线性插值法,所述跳跃连接融合了底层信息的位置信息与深层特征的语义信息,通过i次卷积操作和上采样操作,将的特征提取图恢复到N*N的图片,同时采用i-1次跳跃连接,实现了图像分辨率恢复的功能。
6.根据权利要求2所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,在步骤(2)中,所述PatchGan结构采用全卷积形式,图像经过各种卷积层后将输入映射为N*N的矩阵,XN*N代表每个patch为真样本的概率,将XN*N求均值,即为判别器最终输出;将生成器产生的N*N的反演流场图与N*N的实际流场同时输入判别器中,通过p次编码操作,得到2p*2p*512的结果后进行真假判断,所述编码操作包括卷积操作和上采样操作。
7.根据权利要求1所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,在步骤(2)中,所述Adam优化器的流程如下:
(a)初始化参数ω和b的微分dω和db的一阶矩变量Vdω=0,Vdb=0以及二阶矩变量Sdω=0,Sdb=0;
(b)在第s次迭代中,采用小批量随机梯度下降法来计算微分dω和db;
(c)计算动量的指数加权平均数;
(d)用均方根传播进行更新;
(e)计算动量和均方根传播的偏差修正;
(f)更新权重。
8.根据权利要求1所述顺轨干涉合成孔径雷达海表流场反演方法,其特征在于,所述海表流场反演模型的损失函数G*如下:
L1(G(X))=EX,Y(||Y-G(X)||1)
其中,G(X)为生成器G对于样本X的生成结果,D(Y)为判别器D在判别真实样本Y时的输出,EX(·)为样本X分布的期望函数,EX,Y和EY,X为联合分布的期望函数,λ为权重参数,||·||1表示计算绝对偏差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学,未经南京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110895544.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。