[发明专利]一种光模块测试装置

说明书

本申请涉及一种光模块测试装置，涉及光纤通信技术领域，该装置包括：PRBS伪随机码产生电路模块、PRBS伪随机码检查校验模块和光模块接口电路模块；PRBS伪随机码产生电路模块用于产生PRBS伪随机数据包，向光模块接口电路模块提供PRBS伪随机数据包；光模块接口电路模块用于与光模块连接，并将PRBS伪随机数据包通过光模块传输给外部，并将光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，传输给PRBS伪随机码检查校验模块；PRBS伪随机码检查校验模块用于分析PRBS伪随机数据包与PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。本申请能够降低光模块生产测试成本，并且能够提高光模块生产测试效率。

技术领域

本申请涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种光模块测试装置。

背景技术

双密度四通道小型可插拔封装（Quad Small Form Factor Pluggable-DoubleDensity，QSFP-DD）光模块采用8通道电气接口，每通道速率可高达25Gb/s（NRZ调制）或50Gb/s（PAM4调制），提供高达200Gb/s或400Gb/s聚合的解决方案，如QSFPDD可在单个交换机插槽中实现高达14.4Tb/s的聚合带宽，使得数据中心能够根据需要有效地增长和扩展云容量。

在实际生产过程中，需要对QSFP-DD光模块进行测试。目前，主要是通过8通道高速误码仪对QSFP-DD光模块进行测试。具体的，8通道高速误码仪通过8对TX和8对RX射频线与QSFP-DD测试板连接，如在QSFP-DD TX眼图测试时，8通道高速误码仪可以通过8对TX高速射频线与QSFP-DD测试板连接，如图1所示，且该QSFP-DD测试板可以通过光纤与高速示波器连接；又如在测试QSFP-DD RX灵敏度时，8通道高速误码仪可以通过8对RX射频线与QSFP-DD光源板连接，以通过该QSFP-DD光源板与QSFP-DD测试板连接，如图2所示，该QSFP-DD测试板可以通过光纤分别与QSFP-DD光源板、光衰减器连接，以及光衰减器可以通过高速射频线与8通道高速误码仪连接，从而可以通过8通道高速误码仪可以对QSFP-DD测试板的RX灵敏度进行测试。

可见，现有QSFPDD测试需要接入8对TX和8对RX射频线，高速射频线的数量高达到32条，影响QSFPDD在生产测试过程中效率；并且高速射频线的价格和8通道高速误码仪设备的价格均比较昂贵，增加QSFPDD生产测试的成本。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种光模块测试装置，以解决了现有技术采用高速误码仪和高速射频线进行光模块测试导致光模块生产测试成本高的问题，提高光模块生产测试效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种光模块测试装置，包括：PRBS伪随机码产生电路模块、PRBS伪随机码检查校验模块和光模块接口电路模块；

所述PRBS伪随机码产生电路模块，用于产生PRBS伪随机数据包；

所述光模块接口电路模块，用于与光模块连接，并将所述PRBS伪随机码产生电路模块产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块，以通过光模块将所述PRBS伪随机数据包转换为光信号，以及将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块；

所述PRBS伪随机码检查校验模块，用于分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。

可选的，光模块测试装置还包括：MCU控制电路模块；

所述MCU控制电路模块，用于控制所述PRBS伪随机码产生电路模块输出所述PRBS伪随机数据包，以及控制所述PRBS伪随机码检查校验模块分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异。

可选的，所述光模块接口电路模块包括TX接口模块和RX接口模块；