[发明专利]目标测评光脉冲的生成方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202110587046.8 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN115412231A 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 马龑;汤艳琳;许穆岚;刘仁德 申请(专利权)人: 科大国盾量子技术股份有限公司
主分类号: H04L9/08 分类号: H04L9/08;H04B10/508;H04B10/70
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 远明
地址: 230088 安徽省合肥市高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 目标 测评 脉冲 生成 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种目标测评光脉冲的生成方法,用于量子密钥分发系统,其特征在于,包括:

产生构成第一发光序列的光脉冲;

调制构成所述第一发光序列的光脉冲以生成构成第二发光序列的光脉冲,其中,所述第二发光序列中的光脉冲具有不同编码状态;以及

根据测评要求对所述第二发光序列中的具有非目标编码状态的光脉冲进行消光并保留具有目标编码状态的光脉冲,以生成构成第三发光序列的目标测评光脉冲。

2.如权利要求1所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述编码状态包括量子态和强度状态中的至少一个。

3.如权利要求1所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述方法还包括对所述第一发光序列中的光脉冲进行量子态调制和强度调制中的至少一种以生成所述第二发光序列,其中所述量子态调制包括对所述第一发光序列中的光脉冲进行偏振量子态调制、时间相位量子态调制或相位量子态调制。

4.如权利要求3所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述方法还包括:

对所述第一发光序列中的光脉冲进行量子态调制和/或强度调制以生成所述第二发光序列,其中所述第二发光序列中的光脉冲具有不同的量子态和/或强度状态;以及

根据所述测评要求对所述第二发光序列中的具有非目标量子态和/或强度状态的光脉冲进行消光并保留具有目标量子态和/或强度状态的光脉冲,以生成所述目标测评光脉冲。

5.如权利要求3所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述测评要求指示目标测评光脉冲是具有目标量子态的光脉冲时,对所述第一发光序列中的光脉冲进行量子态调制以生成所述第二发光序列,其中所述第二发光序列中的光脉冲具有不同的量子态;以及

通过所述强度调制将所述第二发光序列中的具有目标量子态的光脉冲调制成具有预设的强度状态,并且将所述第二发光序列中的具有非目标量子态的光脉冲调制成具有非预设的强度状态,其中所述非预设的强度状态是消光状态。

6.如权利要求3所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述测评要求指示目标测评光脉冲是具有目标强度状态的光脉冲时,对所述第一发光序列中的光脉冲进行强度调制以生成所述第二发光序列,其中所述第二发光序列中的光脉冲具有不同的强度状态;

通过所述时间相位量子态调制将所述第二发光序列中的具有目标强度状态的光脉冲调制成具有预设的时间量子态,并且将所述第二发光序列中的具有非目标强度状态的光脉冲调制成具有非预设的时间量子态;以及

通过光衰减器对所述具有非预设的时间量子态的光脉冲进行消光,从而保留所述具有预设的时间量子态的光脉冲。

7.如权利要求3所述的目标测评光脉冲的生成方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述测评要求指示目标测评光脉冲是具有目标强度状态的光脉冲时,对所述第一发光序列中的光脉冲进行强度调制以生成所述第二发光序列,其中所述第二发光序列中的光脉冲具有不同的强度状态;

通过所述偏振量子态调制将所述第二发光序列中的具有目标强度状态的光脉冲调制成具有预设的偏振量子态,并且将所述第二发光序列中的具有非目标强度状态的光脉冲调制成具有非预设的偏振量子态;以及

通过偏振滤波器保留所述具有预设的偏振量子态的光脉冲,并且对所述具有非预设的偏振量子态的光脉冲进行消光。

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