[发明专利]一种触摸物触头规格的识别方法、装置和存储介质有效
申请号: | 202110485791.1 | 申请日: | 2021-04-30 |
公开(公告)号: | CN113138696B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 请求不公布姓名 | 申请(专利权)人: | 北京钛方科技有限责任公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 王康;龙洪 |
地址: | 100085 北京市海淀区上地信息*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 触摸 物触头 规格 识别 方法 装置 存储 介质 | ||
一种触摸物触头规格的识别方法、装置和存储介质,其中,所述方法包括:获取触头与触摸基板接触时产生的弹性波信号,以及根据所述弹性波信号确定触头材质;判断所述触头与所述触摸基板的接触模式;当判断出所述触头与所述触摸基板的接触模式为第一接触模式时,根据所述触头材质确定所述触头的规格。本申请能够提高触头规格的识别准确度。
技术领域
本文涉及触控技术,尤指一种触摸物触头规格的识别方法、装置和存储介质。
背景技术
为了提升用户使用会议白板或教育白板的体验,目前有的白板支持根据书写工具与白板接触的触头规格改变书写笔迹颜色的功能。如,在白板边框排布红外收发器,如图1所示,形成横竖交叉的红外线网格,当触头与白板接触时,根据触头遮挡的红外网格的面积确定接触参数,根据所述接触参数确定触头的规格。
上述判断触头的规格的方法存在误判的可能,比如,与白板接触的细状书写工具倾斜一定角度导致触头与白板接触参数增大,在该情况下可能会将细规格的触头误判为粗规格的触头,进而输出错误的笔迹颜色;或者,与白板接触的粗状书写工具倾斜一定角度导致触头与白板接触参数减小,在该情况下可能会将粗规格的触头误判为细规格的触头,进而输出错误的笔迹颜色。前述对触头规格的误判均会影响用户体验。
发明内容
本申请提供了一种触摸物触头规格的识别方法、装置和存储介质,能够提高触头规格的识别准确度。
本申请提供的触摸物触头规格的识别方法,包括:获取触头与触摸基板接触时产生的弹性波信号,以及根据所述弹性波信号确定触头材质;判断所述触头与所述触摸基板的接触模式;当判断出所述触头与所述触摸基板的接触模式为第一接触模式时,根据所述触头材质确定所述触头的规格。
进一步地,所述方法还包括:获取所述触头与所述触摸基板的接触参数;当判断出所述触头与所述触摸基板的接触模式为第二接触模式时,根据所述接触参数或触头材质确定所述触头的规格。
进一步地,判断所述触头与所述触摸基板的接触模式,包括:根据所述弹性波信号确定所述触头与所述触摸基板的接触模式:将所述弹性波信号的信号特征与信号特征库中的信号特征进行比对,根据比对结果确定所述触头与所述触摸基板的接触模式,其中,所述信号特征库存储的是不同规格触头分别与触摸基板在第一接触模式和第二接触模式接触下对应的弹性波信号的信号特征。
进一步地,判断所述触头与所述触摸基板的接触模式,包括:根据所述弹性波信号以及所述接触参数确定所述触头与所述触摸基板的接触模式。
进一步地,根据所述弹性波信号以及所述接触参数确定所述触头与所述触摸基板的接触模式,包括:根据所述弹性波信号判断所述触头与所述触摸基板的接触模式;当所述接触参数属于预设的第一规格触头接触范围值或第二规格触头接触范围值,但所述接触参数位于根据所述弹性波信号确定的触头材质对应的触头接触范围值之外时,如果根据所述弹性波信号判断所述接触模式为第一接触模式,则确定所述触头与所述触摸基板的接触模式为第一接触模式,所述第二规格触头接触范围值大于所述第一规格触头接触范围值。
进一步地,根据所述弹性波信号以及所述接触参数确定所述触头与所述触摸基板的接触模式,还包括:当所述接触参数属于预设的第一规格触头接触范围值或第二规格触头接触范围值,且所述接触参数位于根据所述弹性波信号确定的所述触头材质对应的触头接触范围值之内时,确定所述触头与所述触摸基板的接触模式为第二接触模式。
进一步地,根据所述弹性波信号以及所述接触参数确定所述触头与所述触摸基板的接触模式,还包括:当所述接触参数在预设的第一规格触头接触范围值和第二规格触头接触范围值之间或超过所述第二规格触头接触范围值时,判断所述接触参数与根据所述弹性波信号确定的触头材质对应的触头接触范围值之间的距离是否小于预设值,如果是,则确定所述触头与所述触摸基板的接触模式为第一接触模式;如果不是,默认确定所述触头与所述触摸基板的接触模式为第一接触模式或第二接触模式,所述第二规格触头接触范围值大于所述第一规格触头接触范围值。
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