[发明专利]一种雪崩光电二极管和光电倍增管探测器有效
申请号: | 202110412276.0 | 申请日: | 2021-04-16 |
公开(公告)号: | CN113270507B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 胡海帆;秦秀波;刘鹏浩;赵宏鸣;李志垚;马喆;王智斌 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第二研究院 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/107;H01L27/146;H01J43/04 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 张国虹 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 雪崩 光电二极管 光电倍增管 探测器 | ||
1.一种雪崩光电二极管,其特征在于,包括衬底和入射光抗反射层;
所述衬底的顶面为光入射面;所述入射光抗反射层设置于所述衬底的顶面上;
所述衬底包括多个掺杂区;所述掺杂区是向所述衬底掺入杂质离子而形成的;所述掺杂区包括光线入射端P型重掺杂区、N型重掺杂区、P型重掺杂区、P型掺杂区和P型低掺杂区;所述光线入射端P型重掺杂区位于所述衬底的顶部;所述N型重掺杂区和所述P型重掺杂区均位于所述衬底的底部,所述P型重掺杂区位于所述N型重掺杂区的两侧,且每一所述P型重掺杂区与所述N型重掺杂区之间均存在间隙;所述P型掺杂区位于所述N型重掺杂区的上方,且所述P型掺杂区的底面与所述N型重掺杂区的顶面相贴合;除所述光线入射端P型重掺杂区、所述N型重掺杂区、所述P型重掺杂区和所述P型掺杂区所处区域外,所述衬底的其他区域均为所述P型低掺杂区;
所述P型重掺杂区与阳极引出端电连接,所述N型重掺杂区与阴极引出端电连接;
所述雪崩光电二极管还包括基板;所述基板位于所述衬底的下方,所述基板的顶面与所述衬底的底面相贴合;所述衬底的顶面为凹凸面,具有一个第一凸起部;所述基板的顶面具有与所述第一凸起部形状相同的第二凸起部;所述N型重掺杂区位于所述第二凸起部上;
所述P型重掺杂区的高度高于所述P型掺杂区的顶面所处水平线的高度;或者,所述雪崩光电二极管还包括隔离结构;所述隔离结构设置于所述P型重掺杂区上;所述隔离结构的顶面所处水平线的高度高于所述P型掺杂区的顶面所处水平线的高度。
2.根据权利要求1所述的一种雪崩光电二极管,其特征在于,所述基板上开设有多个沿高度方向的凹槽,所述凹槽用于放置所述阳极引出端和所述阴极引出端。
3.根据权利要求1所述的一种雪崩光电二极管,其特征在于,所述阳极引出端和所述阴极引出端均从所述衬底的底部引出。
4.根据权利要求2所述的一种雪崩光电二极管,其特征在于,从所述衬底的顶面向所述衬底掺杂预设厚度的杂质离子,形成所述光线入射端P型重掺杂区。
5.根据权利要求1所述的一种雪崩光电二极管,其特征在于,所述N型重掺杂区和所述P型掺杂区的顶面均与所述第一凸起部的形状相同。
6.一种光电倍增管探测器,其特征在于,包括多个雪崩光电二极管单元;多个所述雪崩光电二极管单元并联连接;
每一所述雪崩光电二极管单元均包括如权利要求1-5任一项所述的雪崩光电二极管和淬灭电阻,所述雪崩光电二极管和所述淬灭电阻串联连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的