[发明专利]一种OTA测试暗室

说明书

本发明提供了一种OTA测试暗室，包括：屏蔽壳体，屏蔽壳体限定暗室的内部空间；吸波材料，设置在屏蔽壳体的内墙面上；反射面，设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器，设置在内部空间的与第一端相对的第二端；转台，设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及馈源，设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统，设置平面波发生器形成平面波系统，并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统，平面波系统和紧缩场系统共用转台，从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一，在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。

技术领域

本发明涉及OTA测试技术领域，特别是一种OTA测试暗室。

背景技术

目前已知的OTA(Over-the-Air，空口)暗室测试场地，例如，用于5G基站的OTA测试的场地，主要有远场、近场、紧缩场、平面波合成器系统以及混响室等等，然而这些场地各自都有自己的优缺点。

对于近场和混响室，它们只能用于进行TRP(Total Radiated Power，总辐射功率)类测试项的测试，无法准确测量EIRP(Effective Isotropic Radiated Power，等效全向辐射功率)等方向性测试项。平面波合成器系统目前只能测试1.7-6GHz以内频率范围的设备，而且无法测量指标要求较高的杂散TRP类测试项。对于远场，则一般需要较大的测试场地，导致成本非常之高。例如对于频率2GHz、天线尺寸约1.2米的设备，需要长约20米以上的场地空间。并且，由于较大的空间路损，容易导致测量时信噪比较低，得到较差的测量结果。对于紧缩场，如果需要支持较低频率、以及大尺寸的测量设备，则需要更大的反射面，也同样存在场地大、成本高的问题。例如对于频率2GHz、天线尺寸约1.2米的设备，需要较大尺寸和重量的反射面(投影面积约2米×2米以上，重量约2吨)以及长约10米的测试场地，这也会导致相当高的建设成本，以及相当高的场地承重要求。

因此，亟需一种可兼顾不同场地要求、成本较低、占用面积较小的OTA测试暗室。

发明内容

鉴于上述问题，提出了一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的OTA测试暗室。

本发明的一个目的在于提供一种集成了近场、紧缩场和平面波系统的OTA测试暗室，其在支持宽频和较大静区的前提下实现了低成本，且占用面积小。

本发明的一个进一步的目的在于通过设置可移动吸波屏风，避免平面波系统和紧缩场系统在各自测量过程中相互干扰。

特别地，根据本发明实施例的一方面，提供了一种OTA测试暗室，包括：

屏蔽壳体，所述屏蔽壳体限定暗室的内部空间；

吸波材料，设置在所述屏蔽壳体的内墙面上；

反射面，设置在所述暗室的所述内部空间的长度方向的第一端；

平面波发生器，设置在所述内部空间的与所述第一端相对的第二端；

转台，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及

馈源，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述转台之间。

可选地，所述OTA测试暗室还包括：

可移动吸波屏风，配置为可在驱动元件的驱动下移动至所述反射面与所述馈源之间遮挡所述反射面，或移动至所述转台与所述平面波发生器之间遮挡所述平面波发生器。

可选地，所述吸波屏风包括基板和固定在所述基板上的吸波材料。

可选地，所述OTA测试暗室还包括：