[发明专利]一种基于FDS的绝缘套管X蜡缺陷检测方法及系统有效
| 申请号： | 202110342661.2 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113075268B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 黄之明;卓然;张玉波;余长厅;傅明利;罗颜;赵坚;颜海俊;成传晖;喻越;张磊;焦健;熊佳明;王邸博;詹红生;杨涛;毛佳 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司;广西电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 沈闯 |
| 地址： | 510663 广东省广州市萝岗区科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fds 绝缘 套管 缺陷 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于FDS的绝缘套管X蜡缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
根据预先获取的待测套管在0.001Hz至1000Hz频段内的频域介电谱数据及频域介电谱曲线获得不同频率对应的介损角正切值；
判断0.01Hz至1Hz频段的介损角正切值是否超过2%，当上述判断为是时，则执行下一步；当判断0.01Hz至1Hz频段的介损角正切值未超过2%时，则判定所述待测套管不存在缺陷，返回上一步；
基于最小二乘法在对数坐标下分别对0.001Hz至0.1Hz频段和0.1至10Hz频段的介损角正切值进行线性拟合，从而获得0.001Hz至0.1Hz频段和0.1至10Hz频段分别对应的第一直线方程和第二直线方程；
根据所述第一直线方程和所述第二直线方程确定相应的第一直线斜率和第二直线斜率；
当判断所述第一直线斜率大于零且所述第二直线斜率小于零时，则判定所述待测套管内的X蜡存在缺陷；
其中，所述待测套管具体采用电压范围为72.5kV~500kV的油纸电容型套管。
2.根据权利要求1所述的基于FDS的绝缘套管X蜡缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预先获取的待测套管在0.001Hz至1000Hz频段内的频域介电谱数据及频域介电谱曲线获得不同频率对应的介损角正切值的步骤之前包括：
通过频域介电谱测试仪获取所述待测套管在0.001Hz至1000Hz频段内的频域介电谱数据及频域介电谱曲线。
3.一种基于FDS的绝缘套管X蜡缺陷检测系统，其特征在于，包括：
获取模块以及与所述获取模块依次连接的第一判断模块、拟合模块、确定模块和第二判断模块；
所述获取模块，用于根据预先获取的待测套管在0.001Hz至1000Hz频段内的频域介电谱数据及频域介电谱曲线获得不同频率对应的介损角正切值；
所述第一判断模块，用于判断0.01Hz至1Hz频段的介损角正切值是否超过2%，还用于当上述判断为是时，则向所述拟合模块发送拟合信号；当判断0.01Hz至1Hz频段的介损角正切值未超过2%时，则向所述获取模块发送获取信号；
所述拟合模块，用于接收所述第一判断模块发送的所述拟合信号后，基于最小二乘法在对数坐标下分别对0.001Hz至0.1Hz频段和0.1至10Hz频段的介损角正切值进行线性拟合，从而获得0.001Hz至0.1Hz频段和0.1至10Hz频段分别对应的第一直线方程和第二直线方程；
所述确定模块，用于根据所述第一直线方程和所述第二直线方程确定相应的第一直线斜率和第二直线斜率；
所述第二判断模块，根据所述第一直线斜率和所述第二直线斜率判断所述待测套管内的X蜡是否存在缺陷，当判断所述第一直线斜率大于零且所述第二直线斜率小于零时，则判定所述待测套管内的X蜡存在缺陷；
其中，所述待测套管具体采用电压范围为72.5kV~500kV的油纸电容型套管。
4.根据权利要求3所述的基于FDS的绝缘套管X蜡缺陷检测系统，其特征在于，还包括频域介电谱测试仪，用于获取所述待测套管在0.001Hz至1000Hz频段内的频域介电谱数据及频域介电谱曲线。
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