[发明专利]基于数据回溯的产品性能分析方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110293634.0 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN113010426B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 陈丽园 申请(专利权)人: 汇链通产业供应链数字科技(厦门)有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F16/903
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 蔡舒野
地址: 361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 基于 数据 回溯 产品 性能 分析 方法 装置
【权利要求书】:

1.基于数据回溯的产品性能分析方法,其特征在于,所述方法执行以下步骤:

步骤1:采集软件产品测试过程中的测试数据,将每一条采集到的测试数据进行数据封装;所述数据封装过程包括:将所有的测试数据输入一个环状数值生成器,生成测试数据对应的环状数值,同时,对测试数据进行数据分析,生成一个能够表征测试特征的数据特征值,将数据特征值作为数据封装后的数据头,将测试数据作为数据内容,将环状数值作为数据映射,将所述数据映射和所述数据内容构成数据体,将数据体和数据头作为数据封装后的得到的封装数据;

步骤2:构建一个树形网络结构的数据回溯树,将同一软件产品的每个封装数据均按照时间先后顺序在数据回溯树中进行队列填充,每个封装数据都成为数据回溯树中的一个节点;

步骤3:在进行队列填充时,将每个封装数据的数据映射根据环状路由表,构建映射链,每个完整的映射链中所有的封装数据构成数据链;建立一个环状路由表,将每个封装数据的数据映射填充到环状路由表中,在填充过程中,进行环状路由表的管理,完成映射链的构建;将每个完整的映射链中所有的封装数据作为一个节点,完成数据链的构建;

步骤4:在进行软件产品性能分析时,发送数据回溯命令,该数据回溯命令中至少包括目标测试场景编号、目标测试结果和版本编号中的一项;对数据回溯命令进行数据分析,生成能够表征数据回溯命令的数据特征值,依据该数据特征值,在数据回溯树中进行第一次回溯,找到匹配该数据特征值的所有封装数据;

步骤5:依据步骤4中的所有封装数据中数据映射对应的数据链,进行第二次回溯,将数据链中的测试数据作为回溯结果,完成数据回溯;

步骤6:依据找到的回溯结果,进行产品性能分析。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1中:对测试数据进行数据分析,生成一个能够表征测试特征的数据特征值的方法包括:将测试数据转换为一个矩阵,得到测试矩阵,对测试矩阵的行和列分别进行矩阵的秩提取计算以获得各个测试数据的水平梯度;对测试矩阵的行和列分别进行矩阵的秩提取计算以获得各个测试数据的垂直梯度;分别计算各个测试数据的水平梯度平方值、水平梯度与垂直梯度的乘积和垂直梯度平方值;分别累计以当前测试数据为中心的预定大小窗口内的各个测试数据的水平梯度平方值和、水平梯度与垂直梯度的乘积和和垂直梯度平方值和;根据所述窗口内的各个测试数据的水平梯度平方值和、水平梯度与垂直梯度的乘积和和垂直梯度平方值和计算当前测试数据的特征值。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对测试矩阵的行和列分别进行矩阵的秩提取计算以获得各个测试数据的水平梯度的方法包括:其中,G(x,y)为垂直梯度,M为矩阵的秩,y为矩阵的宽度,g函数为求较大值函数,g(A,B)表示,求取A值和B值中的较大值。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对测试矩阵的行和列分别进行矩阵的秩提取计算以获得各个测试数据的垂直梯度的方法包括:其中,G(x,y)为垂直梯度,M为矩阵的秩,h为矩阵的高度,L函数为求较小值函数,L(A,B)表示,求取A值和B值中的较小值。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤3中在进行队列填充时,将每个封装数据的数据映射根据环状路由表,构建映射链,每个完整的映射链中所有的封装数据构成数据链的方法包括:建立一个环状路由表,将每个封装数据的数据映射填充到环状路由表中,在填充过程中,进行环状路由表的管理,完成映射链的构建;将每个完整的映射链中所有的封装数据作为一个节点,完成数据链的构建。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,进行环状路由表的管理的方法包括:使用链表存储发生环状冲突的环状键值对应的环状表项,使用根表存储各个环状键值对应的环状表项、以及链表信息项,所述链表信息项用于指示链表中是否存在每个环状键值对应的环状表项;获取环状键值以及待存储的环状表项;依据所获取的环状键值读取根表中的存储数据;在读取的存储数据中不包括链表信息项时,将所述待存储的环状表项存储至根表中;在读取的存储数据中包括链表信息项时,将所述待存储的环状表项存储至链表中。

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