[发明专利]一种夹具和批量测试设备

说明书

本发明涉及电路板工装技术领域，提供一种夹具和批量测试设备，包括呈相对设置的探针板和顶针板，探针板包括第一基板和多根探针，多根探针呈预设电路设置并安装在第一基板上，形成探针阵列，多块电路板适于与第一基板呈预设距离设置并安装在探针阵列和顶针板之间，当探针阵列与顶针板夹紧时，探针阵列适于因与多块电路板电性接触而使多块电路板导通，当探针阵列与顶针板松开时，探针阵列适于因与多块电路板脱离接触而使多块电路板断开，避免了各块电路板以热插拔方式与插头连接，有助于既缩短了对电路板进行批量电性通断的时间，有助于探针阵列与顶针板一起对多块电路板平衡施力从而省力，有助于探针板长期保持与多块电路板良好电性接触的性能。

技术领域

本发明涉及电路板工装技术领域，具体涉及一种夹具和批量测试设备。

背景技术

目前，通过测试设备及工艺对电路板进行测试，使电路板暴露诸如焊接不良、参数失调和温漂等缺陷，为剔除具有不良性及不稳定的电路板提供便利，通过多种电线将多块电路板连接成整体，支持批量测试电路板，以提升测试效率，例如，大量电路板排列在桌面上，每相邻的两块电路板通过电源线、老化线和通讯线连接，对通电后的大量电路板进行老化测试。

但是，由于各块电路板上的多种插座以热插拔方式与多种电线上的插头连接，插头在插拔过程中会与插座之间产生较大的摩擦力，既耗时耗力，也容易造成插头因长期与插座相互磨损而接触不良甚至脱离。

发明内容

针对上述技术缺陷，本发明提供一种夹具和批量测试设备。

本发明第一方面提供一种夹具，所述夹具包括呈相对设置的探针板和顶针板，所述探针板包括第一基板和多根探针；

多根所述探针呈预设电路设置并安装在所述第一基板上，形成探针阵列，多块电路板适于与所述第一基板呈预设距离设置并安装在所述探针阵列和所述顶针板之间；

当所述探针阵列与所述顶针板夹紧时，所述探针阵列适于因与多块所述电路板电性接触而使多块所述电路板导通；

当所述探针阵列与所述顶针板松开时，所述探针阵列适于因与多块所述电路板脱离接触而使多块所述电路板断开。

上述技术方案的有益效果是：通过探针板与顶针板对多块电路板进行夹紧或松开的方式，使多块电路板同时导通或断开，避免了各块电路板以热插拔方式与插头连接，有助于既缩短了对电路板进行批量电性通断的时间，有助于探针阵列与顶针板一起对多块电路板平衡施力从而省力，有助于探针板长期保持与多块电路板良好电性接触的性能，从而，有助于延长探针板的使用寿命和降低成本。

可选地，所述夹具还包括位于所述第一基板和所述顶针板之间的定向板以及安装在所述第一基板和所述定向板之间的多个弹性连接件；

所述第一基板与所述定向板呈平行设置，所述探针阵列插设在所述定向板中，多块所述电路板适于贴合在所述定向板上；

当所述顶针板同时施压在多块所述电路板上使多个所述弹性连接件压缩时，所述定向板与多块所述电路板一起沉降，以及，所述探针阵列与所述顶针板夹紧；

当所述顶针板从多块所述电路板上同时释压使多个所述弹性连接件伸展时，所述定向板顶升多块所述电路板至复位，以及，所述探针阵列与所述顶针板松开。

上述技术方案的有益效果是：借助多个弹性连接件，既使定向板兼备对探针阵列进行受力导向和承载多块电路板等性能，也对多块电路板在与探针阵列接触过程中进行受力缓冲，结构简单，防止探针阵列中的各根探针因承载侧向力而弯折，有助于探针阵列长期保持线性以与电路板良好电性接触，保证了定向板和多块电路板复位，有助于提升定向板的利用率。

可选地，多根所述探针为弹簧探针，多个所述弹性连接件呈二维阵列设置。

上述技术方案的有益效果是：有助于探针阵列均匀受力，有助于提升探针阵列的使用寿命。