[实用新型]一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱

说明书

本实用新型涉及高低温试验箱，具体是一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱。本实用新型解决了传统的高低温试验箱无法满足红外探测器的快速高低温试验要求、使用可靠性差、功耗高、噪音大、成本高的问题。一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱，包括微型箱体、左三级半导体制冷片、右三级半导体制冷片、左内散热片、右内散热片、左内风扇、右内风扇、左外散热片、右外散热片、左外风扇、右外风扇、温控器、盖板、上圆形玻璃片、下圆形玻璃片、锁紧螺钉。本实用新型适用于红外探测器的快速高低温试验，同样适用于其它小体积产品（如紫外探测器或各种传感器）的快速高低温试验。

技术领域

本实用新型涉及高低温试验箱，具体是一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱。

背景技术

目前，红外探测器的高低温试验普遍采用传统的高低温试验箱进行。然而实践表明，传统的高低温试验箱由于自身结构所限，存在如下问题：其一，在进行红外探测器的快速高低温试验（快速高低温试验要求红外探测器的环境温度进行快速变化）时，传统的高低温试验箱因其自身升降温速率较低（通常仅为1~2℃/min），无法满足快速高低温试验要求。其二，传统的高低温试验箱结构复杂、体积庞大，因此其存在使用可靠性差、功耗高、噪音大、成本高的问题。基于此，有必要发明一种全新的高低温试验箱，以解决传统的高低温试验箱无法满足红外探测器的快速高低温试验要求、使用可靠性差、功耗高、噪音大、成本高的问题。

发明内容

本实用新型为了解决传统的高低温试验箱无法满足红外探测器的快速高低温试验要求、使用可靠性差、功耗高、噪音大、成本高的问题，提供了一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱。

本实用新型是采用如下技术方案实现的：

一种用于红外探测器快速高低温试验的微型高低温试验箱，包括微型箱体、左三级半导体制冷片、右三级半导体制冷片、左内散热片、右内散热片、左内风扇、右内风扇、左外散热片、右外散热片、左外风扇、右外风扇、温控器、盖板、上圆形玻璃片、下圆形玻璃片、锁紧螺钉；

微型箱体的上端设有敞口；微型箱体的上端面开设有方框状密封槽；方框状密封槽内嵌装有橡胶密封圈；微型箱体的上端面四角各开设有一个盲螺孔，且四个盲螺孔均位于方框状密封槽的外侧；微型箱体的左外侧壁中央开设有左矩形安装槽；微型箱体的右外侧壁中央开设有右矩形安装槽；微型箱体的左内侧壁、右内侧壁、前内侧壁、后内侧壁共同粘附有方管状隔热层；方管状隔热层的左内侧壁中央与左矩形安装槽的槽底中央之间贯通开设有左矩形安装孔；方管状隔热层的右内侧壁中央与右矩形安装槽的槽底中央之间贯通开设有右矩形安装孔；方管状隔热层的后内侧壁中央与微型箱体的后外侧壁中央之间贯通开设有圆形穿线孔；圆形穿线孔内塞装有橡胶塞；

左三级半导体制冷片的第一级半导体制冷片嵌装于左矩形安装孔内，且第一级半导体制冷片的右表面与方管状隔热层的左内侧壁齐平；左三级半导体制冷片的第二级半导体制冷片位于左矩形安装槽内，且第二级半导体制冷片的右表面边缘与左矩形安装槽的槽底接触；左三级半导体制冷片的第三级半导体制冷片嵌装于左矩形安装槽内，且第三级半导体制冷片的左表面与微型箱体的左外侧壁齐平；右三级半导体制冷片的第一级半导体制冷片嵌装于右矩形安装孔内，且第一级半导体制冷片的左表面与方管状隔热层的右内侧壁齐平；右三级半导体制冷片的第二级半导体制冷片位于右矩形安装槽内，且第二级半导体制冷片的左表面边缘与右矩形安装槽的槽底接触；右三级半导体制冷片的第三级半导体制冷片嵌装于右矩形安装槽内，且第三级半导体制冷片的右表面与微型箱体的右外侧壁齐平；