[发明专利]一种基于OID二维暗码识别的交互方法、装置、系统及其存储介质

说明书

本发明公开了一种基于OID二维暗码识别的交互方法、装置、系统及其存储介质，该方法包括以下步骤：判断感应位置光源的强弱，光强不高于预定值时，打开对光电识别摄像模块的遮挡部件；判断光电识别摄像模块和二维暗码的接触夹角，夹角小于45℃或大于90℃时，自动调整光电识别摄像模块的位置，使得接触夹角在45‑90℃之间；对二维暗码进行码值读取；将码值进行解码，解码结果和储存文件中的信息相比对；作出相应反馈。本发明提供了基于OID二维暗码识别的交互方法、装置、系统及其存储介质，解决了现有技术中使用不慎易造成感光元件由于强光源聚焦而烧坏的问题，且能够自动调整光电识别摄像模块和二维暗码的接触夹角，提高用户体验。

技术领域

本发明涉及OID二维暗码识别技术领域，具体为一种基于OID二维暗码识别的交互方法、装置、系统及其存储介质。

背景技术

现有技术中，申请号为“201710376209.1”的一种基于电子屏幕的点读码识别方法、终端及点读笔，涉及电子技术领域，其中，方法包括：控制终端的屏幕以预设的亮度和灰度显示铺设有点读码的图片；接收点读笔在所述屏幕上的点击操作；根据所述点击操作，控制所述终端以预设的频率刷新所述屏幕上显示的铺设有点读码的图片，使所述点读笔读取并识别所述图片中的点读码，该基于电子屏幕的点读码识别方法、终端及点读笔可以扩展点读笔一次点击操作所能识别的点读码范围，增加了点读码的识别长度，扩展了点读码的码值范围。

但是，其在使用过程中，仍然存在较为明显的缺陷：1、上述装置中的点读笔主要使用对象是儿童，当儿童将上述装置的光电识别摄像头直接对准阳光、白炽灯等强光源时，对强光聚焦会烧坏感光元件，对光电识别摄像头造成不可逆的损坏，而儿童较为活泼好动，非常容易损坏上述装置；2、目前市场上光电识别摄像装置的灵敏度和交互性有限，当光电识别摄像装置和识别位置二维暗码的夹角过小或过大时，都会影响装置对二维暗码的识别，因此对用户的操作要求较高，使用中需要额外注意放置位置，用户体验较差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于OID二维暗码识别的交互方法、装置、系统及其存储介质，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种基于OID二维暗码识别的交互方法，该方法包括以下步骤：

判断感应位置光源的强弱，光强不高于预定值时，打开对光电识别摄像模块的遮挡部件；

判断光电识别摄像模块和二维暗码的接触夹角，夹角小于45℃或大于90℃时，自动调整光电识别摄像模块的位置，使得接触夹角在45-90℃之间；

对二维暗码进行码值读取；

将码值进行解码，解码结果和储存文件中的信息相比对；

作出相应反馈。

优选的，所述判断感应位置光源的强弱，光强不高于预定值时，打开对光电识别摄像模块的遮挡部件，具体包括：

判断感应位置光源的强弱，光强不高于预定值时，将此信息发送给遮挡部件的动力装置，使得遮挡部件打开，光电识别摄像模块显露。

优选的，所述判断光电识别摄像模块和二维暗码的接触夹角，夹角小于45℃或大于90℃时，自动调整光电识别摄像模块的位置，使得接触夹角在45-90℃之间，具体包括：

判断光电识别摄像模块和二维暗码的接触夹角，夹角小于45℃或大于90℃时，光电识别摄像模块缓慢旋转，并实时监测接触夹角的大小变化，直至接触夹角在45-90℃之间。

优选的，所述对二维暗码进行码值读取，具体包括：

对二维暗码并进行放大处理和纠错处理，对处理好的二维暗码进行识别。

优选的，所述将码值进行解码，解码结果和储存文件中的信息相比对，具体包括：