[发明专利]一种具有防尘功能的集成电路测试仪器

说明书

本发明公开了一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁、仪器主体、第一弹簧和第二弹簧，所述墙壁的一侧固定有固定架，所述仪器主体位于固定架远离墙壁的一侧，其中，所述仪器主体靠近固定架的一侧四角固定有支脚，所述仪器主体远离支脚的一侧设置有防尘盖，所述仪器主体靠近防尘盖的较短一边两侧开设有挡板槽，所述仪器主体靠近挡板槽的顶部开设有连接杆槽，所述连接杆槽与挡板槽相连通，所述第一弹簧固定在挡板槽的底部。该具有防尘功能的集成电路测试仪器，设置有防尘盖，在测试仪器使用完成后，将防尘盖盖在仪器主体上，通过防尘盖对仪器主体进行防尘，避免灰尘附着在控制面板与检测连接头上，便于对测试仪器进行防尘处理。

技术领域

本发明涉及集成电路测试仪技术领域，具体为一种具有防尘功能的集成电路测试仪器。

背景技术

集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一，集成电路测试技术是发展集成电路产业集成电路产业的三大支撑技术之一。

目前的集成电路测试仪器虽然种类和数量非常多，但现有的集成电路测试仪器仍存在了一定的问题，对集成电路测试仪器的使用带来一定的不便。

现有的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会占用空间，不便使用，因此迫切需要能改进集成电路测试仪器结构的技术，来完善此装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，以解决上述背景技术提出的目前的集成电路测试仪器在放置时，仪器表面容易附着上大量的灰尘，仪器表面凹凸不平，不便对仪器灰尘进行清理，且测试仪器收纳会占用空间，不便使用的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种具有防尘功能的集成电路测试仪器，包括墙壁、仪器主体、第一弹簧和第二弹簧，所述墙壁的一侧固定有固定架，所述仪器主体位于固定架远离墙壁的一侧，其中，

所述仪器主体靠近固定架的一侧四角固定有支脚，所述仪器主体远离支脚的一侧设置有防尘盖，所述仪器主体靠近防尘盖的较短一边两侧开设有挡板槽，所述仪器主体靠近挡板槽的顶部开设有连接杆槽，所述连接杆槽与挡板槽相连通；

所述第一弹簧固定在挡板槽的底部，所述第一弹簧的顶部固定有挡板，所述挡板远离第一弹簧的一侧固定有连接杆，所述连接杆远离挡板的一侧转动连接有转动杆，所述转动杆远离连接杆的一端与防尘盖固定连接，所述仪器主体靠近防尘盖的较短另一边两侧开设有弹簧槽；

所述防尘盖靠近弹簧槽的一侧固定有顶杆，所述第二弹簧固定在弹簧槽的内部，所述仪器主体远离挡板槽的一侧中部转动连接有连接架，所述防尘盖远离转动杆的一侧中部固定有固定杆，所述连接架靠近固定杆的一侧开设有固定槽；

所述固定架靠近仪器主体的四角开设有开口槽，所述固定架靠近开口槽的一侧开设有支脚槽，所述固定架靠近仪器主体一侧中部固定有卡块，所述仪器主体靠近卡块的一侧开设有卡槽。

优选的，所述仪器主体远离固定架的一侧设置有控制面板，所述仪器主体靠近控制面板的一侧设置有检测连接头。

优选的，所述支脚通过第一支杆与仪器主体固定连接，所述第一支杆远离仪器主体的一侧连接有第二支杆，所述第一支杆靠近第二支杆的一侧开设有螺杆槽，所述第二支杆靠近螺杆槽的一侧固定有螺杆。

优选的，所述挡板为圆柱体，且挡板通过第一弹簧与仪器主体构成弹性连接，并且挡板的外径大于连接杆槽的内径。

优选的，所述连接杆为圆柱体，且连接杆的外径与连接杆槽的内径相吻合，并且连接杆的长度大于连接杆槽的高度。

优选的，所述连接架转动处到固定槽的垂直距离与连接架转动处到固定杆的垂直距离相等，并且固定杆为圆柱体，而且固定杆的外径与固定槽的内径相吻合。