[发明专利]一种卡扣式四探针测试装置

说明书

本发明涉及一种卡扣式四探针测试装置，包括铝管、纤维木柱、接线柱、探针、垫片、活动卡扣、铜线、温度传感器、铜套，所述探针为四根，探针嵌入到纤维木柱中，活动卡扣系在纤维木柱的一端，活动卡扣另一端用来固定样品，温度传感器嵌入纤维木柱的下端，四根铜线分别接入四根探针的一端，中间连接4个接线柱作固定使用。本发明的装置装卸方便快捷，相对于压铟法测试更加简便快捷。本发明的装置相对于下压式四探针，测试更加准确，且对样品的损坏更小。本发明的装置电极接触性能良好，能更好的测试样品的性能。本发明的装置体积小巧，方便测试与运输。

技术领域

本发明涉及一种电学性能测量系统，更具体的说是一种卡扣式四探针测试装置，属于电学检测领域。

背景技术

随着我国经济的不断发展，新材料的研发成为当今世界各地的热点，而具有钙钛矿型结构稀土掺杂锰氧化物La_5/8(Ca_3/8-xSr_x)MnO₃多晶陶瓷材料作为强关联材料的热点之一，与低温超导一样吸引了大批研究者们的激情。对于La_5/8(Ca_3/8-xSr_x)MnO₃多晶材料而言，目前主要有两个方面的特性极具应用潜质：1.CMR效应2.金属-绝缘态转变效应。其中的CMR效应能够应用于磁性器件中，比如：随机存储器、自旋阀器件、高密度磁存储磁头、磁制冷等。而剧烈的金属-绝缘体转变效应则可以应用于红外热辐射测量器件还有红外热成像显示器件中。为了改善材料的金属-绝缘转变温度和电阻温度系数，因此对样品进行电阻-温度的测试是必要的。

而目前对于温度电阻系数测量仍然存在着各种问题，例如设备成本太高，测试装备装卸复杂等一系列的问题。因此开发出一种温度电阻系数测量设备是当今急需要的一步。

发明内容

为了解决背景技术中存在的问题，本发明提供了一种卡扣式四探针测试装置。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种卡扣式四探针测试装置，包括铝管、纤维木柱、接线柱、探针、垫片、活动卡扣、铜线、温度传感器、铜套，所述探针为四根，探针嵌入到纤维木柱中，活动卡扣系在纤维木柱的一端，活动卡扣另一端用来固定样品，温度传感器嵌入纤维木柱的下端，四根铜线分别接入四根探针的一端，中间连接4个接线柱作固定使用。

作为本技术方案的进一步优化，所述四探针的上端设置有活动卡扣，活动卡扣的一端设置有铁钉用来固定使用，另一端可自由移动。

作为本技术方案的进一步优化，所述垫片处于纤维木柱的凹槽内。

作为本技术方案的进一步优化，所述纤维木柱的左下底部设置有四个接线柱，用来固定与四探针相连的四根铜线。

作为本技术方案的进一步优化，所述纤维木柱的下端设置有温度传感器，并通过两根铜线相连.

作为本技术方案的进一步优化，所述铜套有孔的一端与铝管螺纹连接。

作为本技术方案的进一步优化，铝管的另一端通过铜线与测试仪表相连。

与现有的技术相比本发明的优势在于：

(1)本发明的装置装卸方便快捷，相对于压铟法测试更加简便快捷。

(2)本发明的装置相对于下压式四探针，测试更加准确，且对样品的损坏更小。

(3)本发明的装置电极接触性能良好，能更好的测试样品的性能。

(4)本发明的装置体积小巧，方便测试与运输。

附图说明

图1为本发明的整体结构图；

图2为本发明的俯视图；