[发明专利]采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法

说明书

本发明公布了采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：使用者将物件移至与参照盘抵触，而后通过旋转粗调转筒进行粗调，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；使用者通过旋转微调转筒进行微调，直至粗调同步机构与参照盘之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件待测量尺寸；使用者通过对粗调机构进行粗调、对微调机构进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构与参照盘之间的距离，最终使得粗调同步机构与参照盘之间的距离等物件待对比尺寸；使用者将物件移至与参照盘抵触，并通过粗调同步机构与参照盘之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

技术领域

本发明涉及检测领域，具体涉及一种物件尺寸测量对比方法。

背景技术

长度检测是机械加工中最常用的一种零件尺寸检测，目前用于长度检测的有游标卡尺、刻度尺、卷尺等，但在具体检测过程中，由于人工目测存在较大的偏差，导致其检测尺寸误差大，对于使用场合要求不高的零部件，完全能够满足其测量要求，但对于长度要求高、精度准的零部件，却无法满足其测量要求，除此之外，对于大批量物件的尺寸检测，往往是人工测量，测量效率低，且测量时人为因素较多，存在一定偏差；因此，为解决上述问题，本发明提供一种长度检测对比仪器。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明的目的是提供一种物件尺寸测量对比方法，整个测量过程复位粗调与微调两部分，使得本检测仪的测量精度更高，并可快速对大批量的物件进行尺寸对比。

为实现上述技术目的，本发明所采用的技术方案如下。

采用粗微调方式对物件进行高精度尺寸测量对比方法，其步骤在于：

（一）测量阶段；

S1：使用者将物件移至与测量对比装置接触，并旋转调整装置；

所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构，粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量，微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度，显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据；

所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件，所述的微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件；

所述的测量对比装置包括用于与物件接触并提供参照作用的参照盘、用于根据粗调机构的粗调数据改变自身与参照盘之间距离的粗调同步机构、用于根据微调机构的微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间距离的微调同步机构；

使用者将物件移至与参照盘抵触，而后通过旋转粗调转筒进行粗调，粗调过程中，粗调同步机构将根据粗调数据改变自身与参照盘之间的距离， 同时使用者可通过显示机构与粗调显示构件的配合实时读取粗调数据，即粗调同步机构与参照盘之间的距离，直至粗调数据接近物件待测量尺寸；

S2：使用者通过旋转微调转筒进行微调，微调过程中，微调同步机构将根据微调数据改变粗调同步机构与参照盘之间的距离，同时使用者可通过显示机构与微调显示构件的配合实时读取微调数据，直至粗调同步机构与参照盘之间的距离与物件待测量尺寸相吻合，此时使用者可根据粗调数据与微调数据计算得出物件的待测量尺寸；

（二）对比阶段；

S3：使用者通过对粗调机构进行粗调、对微调机构进行微调，且根据显示机构读取粗调/微调数据并计算出粗调同步机构与参照盘之间的距离，最终使得粗调同步机构与参照盘之间的距离等物件待对比尺寸；

S4：使用者将物件移至与参照盘抵触，并通过粗调同步机构与参照盘之间的距离对比物件尺寸是否达到实际生产要求。

作为本技术方案的进一步改进。