[实用新型]一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置

说明书

本实用新型公开了一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置，其结构包括测试仪主机、显示面板、指示灯、显示屏、把手、控制按钮、控制面板、正极插槽、负极插槽、支架，显示面板嵌入安装于测试仪主机的正面并且通过导线电连接，本实用新型一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置，将支架在合适的位置进行固定安装，检测线分别插进正极插槽和负极插槽，将检测头放在集成电路的线路上，显示屏显示相关数据，检测线使用完后，将摇杆往左拨动，以转轴为原点，摇杆将卡扣往右拨动，弹簧将物品槽弹出，车轮减少物品槽滑动的摩擦力，将检测线放入物品槽即可，检测线放在测试仪分内部，检测线不易丢失，实用性较高。

技术领域

本实用新型是一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置，属于集成电路测试装置领域。

背景技术

目前，国际上先进的集成电路测试装置，虽然具有高速度、多管脚、高精度、多功能等优点，但价格昂贵，稍上档次，就需要数百万美元，国内许多进行超大规模集成电路产品开发的厂家无力购买，严重影响了对集成电路产品的开发应用。

现有技术公开了申请号为：02246738.6的一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置括对整个测试装置进行控制的计算机、图形发生器、管脚电路，其中图形发生器为高档微处理器，计算机、图形发生器、管脚电路分别与总线相连接，图形发生器通过管脚电路与被测集成电路相连接，但是该现有技术检测线和测试仪分开放，导致检测线易丢失，实用性较低。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置，以解决现有技术检测线和测试仪分开放，导致检测线易丢失，实用性较低的问题。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置，其结构包括测试仪主机、显示面板、指示灯、显示屏、把手、控制按钮、控制面板、正极插槽、负极插槽、支架，所述显示面板嵌入安装于测试仪主机的正面并且通过导线电连接，所述指示灯的外表面安装于显示面板的内表面并且通过导线电连接，所述显示屏嵌入安装于显示面板的正面并且采用间隙配合，所述把手的下表面安装于测试仪主机的上表面并且通过螺丝相连接，所述控制按钮嵌入安装于控制面板的正面并且通过导线电连接，所述控制面板的外表面安装于测试仪主机的内表并且通过导线电连接，所述正极插槽的外表面安装于测试仪主机的内表面并且采用间隙配合，所述测试仪主机包括测试主机外壳、弹簧、卡扣、滑轨、车轮、物品槽、挡板、摇杆、转轴，所述主机外壳的下表面与弹簧的上表面相连接，所述弹簧的下表面与物品槽的上表面相贴合，所述卡扣嵌入安装于测试主机外壳的下表面并且采用间隙配合，所述滑轨外表面安装于测试主机外壳的内表面并且采用间隙配合，所述车轮嵌入安装于物品槽的右表面并且采用间隙配合，所述物品槽的下表面安装于挡板的上表面并且采用垂直粘合，所述测试主机外壳的下表面与挡板的上表面相贴合，所述摇杆的内表面安装于转轴的外表面并且采用间隙配合，所述转轴嵌入安装于测试主机外壳的正面并且采用间隙配合，所述滑轨的内表面与车轮的外表面相贴合。

进一步地，所述支架嵌入安装于测试仪主机的下表面并且采用间隙配合。

进一步地，所述负极插槽嵌入安装于测试仪主机的正面并且通过导线电连接。

进一步地，所述把手的下表面安装于测试主机外壳的上表面并且通过螺丝相连接，所述支架嵌入安装于测试主机外壳的下表面并且采用间隙配合。

进一步地，所述指示灯为直径2CM、高3CM的圆柱体结构。

进一步地，所述把手采用橡胶材质，材质较软，较少对人体的伤害。

进一步地，所述控制按钮为塑料材质，无导电性，不易触电。

有益效果