[发明专利]一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法

说明书

本发明公开了一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，属于检测技术领域。所述抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，具体包括以下步骤：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，得出样机测试斜率；在DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，得出测试直线斜率；对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在一定范围内；偏差值在一定范围内，生产测试样品达标。本发明的测试方案整体上缩短了测试站工位单机测试时间、缩减了屏蔽箱采购费用、缩减屏蔽箱操作培训费用、和箱内板测治具费用。并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。

技术领域

本发明属于检测技术领域，特别涉及一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法。

背景技术

检测用的金属屏蔽箱造价昂贵，开关繁琐需要时间，并且金属屏蔽箱的操作繁琐，对操作人员要求比较高，相应操作人员需要经过专门的培训。并且目前的金属屏蔽箱对于一些大型、异形的产品无法放置，导致检测困难。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术中存在的缺点与不足，提供一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法。所述的无线板检测方法，整体上缩短了测试站工位单机测试时间，缩减了屏蔽箱采购费用，缩减屏蔽箱操作培训费用，和箱内板测治具费用；并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。

本发明的目的通过下述技术方案实现：一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，具体包括以下步骤：

步骤1：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，获得样机测试斜率；

步骤2：在DUT(被测设备)的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，获得测试直线斜率；

步骤3：对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在可控范围内；

步骤4：偏差值在可控范围内，生产测试样品达标。

其中：步骤1中所述的组包曲线为不同衰减下的wifi发包数曲线。

步骤1中，采用无干扰金属屏蔽测试箱对样机进行两次更换衰减测试，测定组包曲线，推导出样机测试斜率。

作为优选的实施方式，步骤2中所述的在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数：通过DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次，得出测试直线斜率；

所述的衰减采用short circuit绕接衰减方式，通过工装设置为自动更换，降低成本。

步骤3中，所述偏差值在可控范围内，指将斜率转化为角度之后，偏差值在±5°以内，也就是说生产测试曲线应该是与金版样机测试曲线近似平行。

在有干扰无屏蔽箱环境下测试wifi发包数后推导，被测DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次；可以推导出样机在无干扰的屏蔽箱内测试数据。

根据公式Rb＝W\cdot\log_2\left(1+S/N\right)；公式中

S/N＝\sqrt{SNR_{dB}＝10\log_{10}\left(P_{sig}/P_{noi}\right)}；

其中：Rb＝C＝数据可靠性，系统记录与发包数成正比；W为信道带宽；S为信号强度，单位有效功率；N为噪声强度，单位有效功率；SNR为信噪比，P是功率。

同时由于MTU(Maximum Transmission Unit，最大传输单元)数据包路由器一般默认1480字节(Byte)，且环境不变时组包成功率D'(W)<＝D+a，即组包成功率正比于数据可靠性，呈线性函数关系。

本发明所用推导方法为依据上述公式上的任意两点(测试两次)，套入公式算的整条曲线，整条曲线当衰减达到客户指定的数值时，C应该大于等于客户要求。