[发明专利]用于检测输出端电压驻波比的系统及方法在审
申请号: | 201811034717.2 | 申请日: | 2018-09-05 |
公开(公告)号: | CN109257116A | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 王铁羊;宋芳芳;恩云飞;黄云 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;G01R27/06 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 被测件 输出端电压 驻波比 测试信号 反射信号 矢量网络分析仪 检测 激励信号 输出端 驻波比检测 输入端 反射 配置 | ||
本发明提供一种用于检测输出端电压驻波比的系统及方法。该用于检测输出端电压驻波比的系统包括:矢量网络分析仪,配置为:向被测件的输入端提供激励信号以使所述被测件处于工作状态;向所述被测件的输出端提供测试信号以使所述测试信号经所述被测件的输出端反射后产生反射信号;以及接收所述反射信号和所述测试信号以根据所述反射信号和所述测试信号获得所述被测件的输出端电压驻波比。本发明通过矢量网络分析仪同时为被测件提供激励信号和反射信号来检测被测件的输出端电压驻波比,能够提高被测件工作状态下的输出端电压驻波比检测的准确性。
技术领域
本发明涉及微波技术领域,尤其涉及一种用于检测输出端电压驻波比的系统及方法。
背景技术
随着微波器件的发展,高功率微波器件由于其输出功率大,信号覆盖范围广而已大量应用于现代无线通信系统中。而在高功率微波器件的一系列参数中,电压驻波比是一个较为重要的技术指标。
在过去的研究中,工作状态下高功率微波器件输入端的电压驻波比已有较为成熟的测试方法,但由于工作状态下,高功率微波器件输出端的正向放大信号功率较大,将测试信号传入高功率微波器件的输出端后,反射信号将被淹没在正向传输的功率中,因此高功率微波器件工作状态下输出端电压驻波比十分难以测试。研究人员通常会使用非工作状态下的高功率微波器件的输出端电压驻波比来近似反映高功率微波器件内的匹配情况,但这种近似存在较大误差。
现阶段测试输出端的电压驻波比有以下几种方法,但都有各自的缺陷。
图1是现有技术中一种用于检测输出端电压驻波比的系统示意图。
如图1所示,该系统包括信号源101、环形器102、低通滤波器103、可变衰减器104、匹配负载105、被测件106、定向耦合器107、驻波引入器108、负载109以及功率计110。
其中,该系统是通过使用驻波引入器108来检测被测件106的输出端电压驻波比。这种使用驻波引入器的检测方法需要过多的测试配件,而每增加一个测试配件都会为最终的检测结果引入误差。
此外,使用驻波引入器的检测方法,其测试过程与计算都过于繁琐,无法达到快速便捷的检测要求。而且,在高功率微波器件工作状态下输出端电压驻波比检测中,由被测件输出的巨大功率将影响驻波引入器的性能,而驻波引入器引入的大功率驻波又反过来影响被测件的性能,从而导致检测结果的误差。
图2是现有技术中另一种用于检测输出端电压驻波比的系统示意图。
如图2所示,是现有技术中另一种检测输出端电压驻波比的系统,该系统包括矢量网络分析仪(VNA)201、脉冲电源202、供电电源203、被测件204、信号源205、第一耦合器206、第一衰减器207、第二耦合器208、第二衰减器209以及大功率隔离器210。
这种检测方法使用单独的信号源205作为被测件的激励,使被测件工作在饱和工作状态,并由矢量网络分析仪201提供测试信号进行测试。其中,图2中的端口2(Port2)为矢量网络分析仪(vector network analyzer,VNA)201的端口2,RCVR R2与RCVR B均为Port 2的参考接收机。
但是,这种使用单独的信号源作为被测件的激励的方法,由于高功率微波器件在不同频率激励源下工作状态的差异性,矢量网络分析仪测试所得的工作状态下的电压驻波比并不能真实反映不同频率状态下高功率微波器件的输出端电压驻波比。
此外,在信号源输出频率与矢量网络分析仪提供的测试信号频率相同时,接收机无法区分两种信号,导致反射信号测量结果偏高,得到错误的输出端电压驻波比检测结果。
例如,使被测件固定工作在6GHz,测试信号为4-8GHz的扫频信号的过程中,当测试信号从4GHz逐步扫频至6GHz时,接收机无法区分同为6GHz的测试信号和激励信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811034717.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。