[发明专利]全站仪仪器高激光测量系统与使用方法

权利要求书

1.全站仪仪器高激光测量系统，包括全站仪和激光位移传感器，激光位移传感器竖直向下安装在全站仪基座中心处，其特征为还包括激光反射帽，反射帽上下表面均为球面，且球面曲率均与测量标志上表面球面曲率相等，激光测量仪器高时，反射帽覆盖在测量标志球面凸起上，所述测量标志上有对中标志处的凹槽。

2.根据权利要求1中所述的全站仪仪器高激光测量系统，其特征为激光位移传感器的激光为红色可见光，激光位移传感器兼作激光对中器，其与全站仪主机通过数据线相连。

3.根据权利要求1中所述的全站仪仪器高激光测量系统，其特征为激光反射帽上表面为白陶瓷，本体材料为永久磁铁。

4.根据权利要求1中所述的全站仪仪器高激光测量系统，其特征为激光反射帽材料为白陶瓷。

5.全站仪仪器高激光测量系统的使用方法，全站仪仪器高激光测量系统为权利要求1-4中任一项所述的全站仪仪器高激光测量系统，其特征为：

a、全站仪精平后，打开激光位移传感器，瞄准测量标志上的对中标记进行对中;

b、对中后，将激光反射帽盖在测量标志上，覆盖对中标记;

c、在全站仪上读取激光位移传感器测得的仪器高，该仪器高需要加上激光反射帽的厚度和激光位移传感器至全站仪度盘中心的高度，这两部分高度为设备固定长度。