[发明专利]打高压测试装置

说明书

本发明公开一种打高压测试装置，用于具有接线端子的电子产品的打高压测试，包括：探针组件，包括多根高压探针和与多根所述高压探针安装适配的基板，多根所述高压探针的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度；机架；驱动机构，与所述机架和基板连接，所述驱动机构用于驱动所述基板移动，以带动所述高压探针与所述接线端子接触；其中，所述电子产品上接线端子的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。本发明技术方案能够降低电子产品进行打高压测试的成本。

技术领域

本发明涉及打高压测试领域，特别涉及一种打高压测试装置。

背景技术

电子产品一般需要进行打高压测试，而现有打高压测试装置中的高压探针一般都是与电子产品上的接线端子一一对应设置的，如此，在进行打高压测试时，需要将电子产品准确定位，以使高压探针与接线端子准确接触。

而将电子产品进行准确定位需要耗费较多的资源，如需使用精确定位装置或人工进行手动定位，造成测试成本过高和资源的浪费。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种打高压测试装置，旨在降低电子产品进行打高压测试的成本。

为实现上述目的，本发明提供的打高压测试装置包括：

探针组件，包括多根高压探针和与多根所述高压探针安装适配的基板，多根所述高压探针的探头形成一探测区域，所述探测区域内探测头的密度大于所述电子产品上接线端子的密度；

机架；

驱动机构，与所述机架和基板连接，所述驱动机构用于驱动所述基板移动，以带动所述高压探针与所述接线端子接触；

其中，所述电子产品上接线端子的密度是以与所述探测区域相同的面积来计算的。

优选地，多根所述高压探针之间等间距间隔设置。

优选地，多根所述高压探针平行设置，且相邻的两个所述高压探针之间的距离小于等于12mm。

优选地，所述驱动机构包括固定板、移动板和与所述固定板和移动板连接的驱动件，所述固定板与所述机架固定连接，所述移动板与所述基板固定连接，所述驱动件用于驱动所述移动板相对所述固定板移动。

优选地，所述驱动件包括基体和能够相对所述基体移动的伸缩杆，所述基体与所述固定板固定连接，所述伸缩杆远离所述基体的一端与所述移动板固定连接。

优选地，所述打高压测试装置还包括滑动组件，所述滑动组件包括：

第一导轨，沿第一方向设置并与所述机架固定连接；

第一滑块，与所述第一导轨滑动适配；

第二导轨，沿第二方向设置并与所述第一滑块固定连接；

第二滑块，与所述第二导轨滑动适配；

其中，所述第一方向和第二方向不平行；所述固定板与所述第二滑块固定连接。

优选地，所述第一方向和第二方向垂直。

优选地，所述固定板的板面和移动板的板面相对设置，且所述第二滑块位于所述固定板和移动板之间，所述第二导轨从所述固定板和移动板之间形成的空隙穿过。

优选地，所述打高压测试装置还包括第一锁紧件和第二锁紧件，所述第一锁紧件用于锁紧所述第一导轨和第一滑块的连接，所述第二锁紧件用于锁紧所述第二导轨和第二滑块的连接。

优选地，所述打高压测试装置还包括支架和光电阻挡装置，所述支架具有对应多根所述高压探针的支撑面，所述支撑面用于支撑所述电子产品；