[实用新型]CSP测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种半导体领域应用CSP测试夹具。

背景技术

为保证产品质量，该CSP LED生产过程中需要进行master spl，sorting table验证便转化。但是该方式并不能准确判定检测标准。同时该产品为整体式检测方式，则无法实现CSP产品的测试。同时该测试产品的数据准确性差，并不能给予工作人员以工作建议，不利于生产操作的稳步进行。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是提供一种提高检测有效性的CSP测试夹具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

CSP测试夹具，包括夹具本体和电路板，所述电路板设置于夹具本体的端面，所述电路板连接设置有数据线端口，所述电路板上设置有用于放置产品的电极接触面，所述电极接触面设置有与产品对应连接的电极，所述电极处设置有真空吸附结构，所述真空吸附结构用于产品的固定。

该测试夹具利用电路板对CSP产品的电极位置进行限定，保证了检测条件的统一性，为检测结果提供了保障，从而使其检测数据更具有有效性。同时利用真空吸附结构对产品的位置进行限定，避免了其余定位装置的设置，降低了生产成本，同时避免了外部结构对测试结果的影响，保证了检测效果以及检测质量。

本实用新型的有益效果是：

1、电路板电极接触面的设置，解决了无法点亮现象，同时保证了检测条件的统一性，为检测结果提供了保障，从而使产品的检测数据更加准确，提高了检测良率以及检测工作效率；

2、真空吸附结构的设置，避免了其余定位装置的设置，降低了生产成本，同时避免了外部结构对测试结果的影响，保证了检测效果以及检测质量。

附图说明

图1为本实用新型的CSP测试夹具的整体结构示意图；

图中标记为：夹具本体1，电极接触面2，电路板3，真空吸管4，数据线端口5。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图1所示，该CSP测试夹具具有圆柱体形状的夹具本体1。此时夹具本体1的一个端面设置有电路板3，该电路板3的内部设置有电极接触面2。该电极接触面2用于放置待检测产品。为保证检测效果，电极接触面2设置有与产品相对应连接的正负电极。该电路板3的数据线端口5穿过夹具本体1并从夹具本体1的另一端部牵引出。在进行检测时，该数据线端口5与电源进行连接，此时待检测产品的电极需要与正负电极进行对应设置，才可以实现正常的点亮检测操作过程，从而对产品的检测放置效果进行了检测，保证了后续检测数据的有效性。该电路板3导电性好，同时具有散热功能，为测试操作提供了保障。该电路板3的设置可提前对产品进行点亮，为检测结果提供了保障，从而使产品的数据更加准确，提高了产品的检测良率以及工作效率。

为保证产品的稳定放置效果，该夹具本体1的电极设置位置设置有真空吸附结构。该真空吸附结构可以设置为若干吸附孔。夹具本体1朝向吸附孔设置有真空腔，该真空腔与端部的真空吸管4进行连接。该真空吸管4的另一端连接有真空泵。真空吸附结构利用真空泵产生真空环境实现对产品的吸附定位操作。该设置方法避免了其余定位装置的设置，降低了生产成本，同时避免了外部结构对测试结果的影响，保证了检测效果以及检测质量。除上述设置方式，该真空吸附结构可直接通过真空吸管4对产品进行吸附固定。

工作人员将正确放置有产品的夹具放置进入积分球内。该积分球处可设置有与夹具相同大小的接口，从而便于测试操作。工作人员可在控制界面进行测试时间及其他参数的设置，进而使其达到最佳测试效果。

以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。