[实用新型]泛用型旋转探针

说明书

本实用新型公开了一种泛用型旋转探针，包括套管一和套管二，所述套管一和套管二连接，所述套管一内设置弹簧，所述套管二上设置针杆，所述针杆上设置探针，所述套管一和套管二通过旋转轴连接，所述探针与探杆通过螺纹的形式与套管二、针杆连接；本实用新型提供的泛用型旋转探针，通过旋转结构的设计，以及螺纹连接结构的设置，极大的提高了探针的耐磨性，进而提高了其使用寿命，其使用寿命大于100万次以上。

技术领域

本实用新型涉及一种电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件，尤其涉及一种泛用型旋转探针。

背景技术

测试探针是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件。测试探针用来测试无线网卡、路由器的射频信号，其特点是插损小，驻波低；但在形状结构、成本问题、直通率、针头设置等方面有待于改进。针对现有技术这方面的缺陷，本实用新型提出了一种泛用型旋转探针。

实用新型内容

本实用新型为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种泛用型旋转探针，其中，具体技术方案为：包括套管一和套管二，所述套管一和套管二连接，所述套管一内设置弹簧，所述套管二上设置针杆，所述针杆上设置探针。上述的泛用型旋转探针，其中：所述套管一和套管二通过旋转轴连接。上述的泛用型旋转探针，其中：所述探针与探杆通过螺纹的形式与套管二、针杆连接。上述的泛用型旋转探针，其中：所述探针为三面锥、十字架型、七刀型、六面锥型、圆头、杯型头、尖头、平头中的任一型。

本实用新型相对于现有技术具有如下有益效果：

1）提高了探针的使用寿命，其使用寿命大于100万次以上；

2）具有很高的疲劳极限，进一步提高了其耐磨性能；

3）探针相对移动灵活，其适用性更好，结构更加简单；

4）截止频率高，其适用范围更广。

附图说明

图1为泛用型旋转探针的结构示意图。

图中：

1套管一 2弹簧 3套管二 4旋转轴 5针杆 6探针。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。

本实用新型提供了一种泛用型旋转探针，包括套管一和套管二，所述套管一和套管二连接，所述套管一内设置弹簧，所述套管二上设置针杆，所述针杆上设置探针。上述的泛用型旋转探针，其中：所述套管一和套管二通过旋转轴连接，可灵活旋转。上述的泛用型旋转探针，其中：所述探针与探杆通过螺纹的形式与套管二、针杆连接，可以任一拆卸安装。上述的泛用型旋转探针，其中：所述探针为三面锥、十字架型、七刀型、六面锥型、圆头、杯型头、尖头、平头中的任一型，任何一种形式的刀型可以灵活选择。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本实用新型的保护范围当以权利要求书所界定的为准。