[实用新型]一种卡爪型射频测试头

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种射频测试头，尤其涉及一种卡爪型射频测试头。

背景技术

目前在智能手机测试中，通常都是用射频测试头与手机主板上的射频开关(或板端连接器)连接：射频测试头金属内芯在弹簧的压力下深入射频开关(或板端连接器)内部与射频开关内金属簧片(或板端连接器金属内芯)连接导通；射频测试头内凹型刚性金属外导体在弹簧的压力下与射频开关(板端连接器)外圆金属导体端面接触导通。

而在实际测试中，因为治具精度原因，射频测试头经常在连接过程中产生小幅度的偏斜，使得射频测试头外导体与射频开关(或板端连接器)外导体间并不是整个端面接触，而仅仅是一点接触，接触可靠性差，从而导致误测率高，严重影响测试效率和测试的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的是解决现有技术中的问题，提供一种卡爪型射频测试头。

本实用新型的技术方案是：一种卡爪型射频测试头，其特征在于，包括第一外导体、第二外导体、第三外导体、第四外导体和恢复弹簧；所述第一外导体安装在安装底座的内部；所述第二外导体位于所述第一外导体的顶端，恢复弹簧套设于所述第一外导体，位于第二外导体的底部；所述第三外导体内置于所述第二外导体内；所述第四外导体内置于所述第三外导体内，并套设于所述第二外导体的上半部；所述第四外导体的顶部设有至少两片弹性卡爪；所述第二外导体的顶部伸入至该弹性卡爪的下方。

优选地，所述第四外导体的弹性卡爪为四片。

优选地，所述第三外导体与所述第四外导体之间具有活动缝隙。

优选地，所述测试头分为连接端和测试端；所述连接端和测试端安装在所述安装底座的两侧；所述金属内芯伸入至所述连接端和测试端内。

优选地，所述金属内芯由第一外导体伸入至第三外导体。

本实用新型通过弹性卡爪外导体实现稳定多点接触，增强了接触的可靠性，有效的降低了误测率，提高了测试的准确性。

附图说明

图1为本实用新型的立体图；

图2为本实用新型的侧视图；

图3为图2的A-A剖视图；

图4为本实用新型中第四外导体的立体图。

具体实施方式

为了使本实用新型实现的技术手段、技术特征、实用新型目的与技术效果易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。

如图1至图4所示，为本实用新型的一种卡爪型射频测试头，该测试头分为连接端1和测试端2；所述连接端1和测试端2安装在安装底座3的两侧；金属内芯4伸入至所述连接端1和测试端2内。

所述测试端1包括第一外导体11、第二外导体12、第三外导体13、第四外导体14和恢复弹簧15。

所述第一外导体11安装在安装底座3的内部；所述第二外导体12位于所述第一外导体11的顶端，恢复弹簧15套设于所述第一外导体11，位于第二外导体12的底部，以实现对第二外导体12的位置恢复。

所述第三外导体13内置于所述第二外导体12内；所述第四外导体14内置于所述第三外导体13内，并套设于所述第二外导体12的上半部；所述第四外导体14的顶部设有至少四片弹性卡爪140；所述第二外导体12的顶部伸入至该弹性卡爪140的下方。

本实用新型中第三外导体13与所述第四外导体14之间具有活动缝隙，以保证弹性卡爪140具有一定的活动空间，达到弹性卡爪140与射频开关5(或板端连接器)外导体始终保持弹性多点接触的目的。

当本实用新型与射频开关5(或板端连接器)连接时，弹性卡爪140的前端导向沿射频开关5(或板端连接器)外导体外圆滑动推进，因弹性卡爪140开槽处孔径小于射频开关(或板端连接器)外导体外圆所以推进过程中，弹性卡爪140被射频开关5(或板端连接器)外导体挤入而涨开，弹性卡爪140在过程中一直保持夹紧射频开关(或板端连接器)外导体外圆状态，直至射频开关5(或板端连接器)端面与卡爪内圆柱形金属平台压紧，连接到位。

在上述整个连接过程中，无论本实用新型射频测试头是否小幅度偏斜，弹性卡爪140与射频开关5(或板端连接器)外导体始终保持弹性多点接触，接触可靠性增强，从而有效降低误测率，提高测试效率和测试准确性。

本实用新型通过弹性卡爪外导体实现稳定多点接触，增强了接触的可靠性，有效的降低了误测率，提高了测试的准确性。

综上所述仅为本实用新型较佳的实施例，并非用来限定本实用新型的实施范围。即凡依本实用新型申请专利范围的内容所作的等效变化及修饰，皆应属于本实用新型的技术范畴。