[实用新型]一种基于多周期平均的相位差测量装置

权利要求书

1.一种基于多周期平均的相位差测量装置，其特征在于，所述基于多周期平均的相位差测量装置包括：

用于将输入的正弦信号整形为方波信号的信号放大整形模块；

用于相位差信号取出、高频窄脉冲生成及脉冲计数的取相位差及窄脉冲计数模块；

用于通过内部的定时器完成参考闸门的产生、计数值接收、相位差计算以及显示控制的单片机；

用于显示计算结果的LCD显示模块。

2.如权利要求1所述的基于多周期平均的相位差测量装置，其特征在于，所述基于多周期平均的相位差测量装置的电路连接如下：输入的比对信号f_x1连接到NE5532的3引脚，2引脚接地，1引脚的连接至5引脚，6引脚LM393的3引脚接NE5532的7引脚接，2引脚接地，1引脚为整形输出；f_x2同理，连接NE5532的7引脚连接LM393的5引脚，6引脚接地，7引脚为其整形输出；异或门74LS86输入接LM393的1引脚和7引脚；与门74LS00的输入接晶振信号和74LS86的输出，输出作为主门A；单片机的输出1S的参考门时，作为D触发器74HC74的输入D1，LM393的1引脚连接至74HC74的CLK1，输出为Q1；定时器8254的GATE0和GATE1均连接74HC74的Q1，CLK0接74LS00的输出，CLK1接晶振信号，输出为D0～D7；单片机的P1.0～P1.7连接8254的D0～D7，P2.0～P2.4分别接8254的WR、RD、CS、A1和A0；1602LCD的RS连接单片机P2.7，RW接P2.6，EN接P2.5，数据引脚D0～D7接P0.0～P0.7。