[实用新型]一种微波屏蔽服屏蔽效能测试系统有效

专利信息
申请号: 201720302176.1 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN206671428U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 范杰清;高娟;郝建红 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 朱琨
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微波 屏蔽 效能 测试 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于微波屏蔽服屏蔽效能检测领域,尤其涉及一种微波屏蔽服屏蔽效能测试系统。

背景技术

微波屏蔽服的作用主要是减小外界电磁波对屏蔽服内的人体和设备的影响。现有的微波屏蔽服屏蔽测试方法主要依据《GB/T 23463-2009防护服装微波辐射防护服》,测试的具体方法是在电波暗室或者开阔场地中营造一个电磁环境,将人体模特置于该环境中,并在人体模特内部放置一个场强探头,在测试场强保持不变的情况下,通过比对人体模特穿屏蔽服前后,其内部场强探头所检测出来的场强大小比值来计算出该屏蔽服的屏蔽效能。然而现有技术存在一个致命的缺陷,即很难保证试验的重复性,大量测试和仿真数据表明,这种测试方法在很多频点上会出现穿屏蔽服的模特模型内部场强比不穿屏蔽服时的模特模型内部场强更大的现象。这种现象产生的原因是由于在服装上有不同程度的缝隙、孔洞和开口,进入屏蔽服的电磁波在屏蔽服内不断反射,相互叠加,形成驻波和谐波,导致屏蔽服内电磁环境非常复杂,屏蔽服穿着状态的略微改变,便可导致场强探头所在位置时而是驻波导致的场强抵消,时而是谐振导致的场强剧增,测试数据变化大,重复性差,测试数据无法指导屏蔽服的设计和应用。

根据屏蔽效能的计算公式:屏蔽效能SE=20Log(E1/E2),其中E1是不穿屏蔽服情况下测得的电场场强值,E2是在穿屏蔽服的情况下测得的电场场强值。在理想状态下,E2<E1,屏蔽效能为正,但由于屏蔽服内部电磁环境复杂,在现有方法中,当测试点位置产生谐振后,由于E2是谐振状态下的场强值,E1是非谐振状态下的场强值,会导致E2>E1,屏蔽效能为负,得出穿屏蔽服的场强比不穿屏蔽服的场强大的错误结论,从而导致测量值与屏蔽服实际的屏蔽效能不相符,因此现有方法所得测试的数据是不准确的。

发明的方法采用混响室法,通过混响室可以使测试点的场强在不穿屏蔽服和穿屏蔽服的情况下均可达到谐振状态,从而使测得的E1和E2均为谐振状态的测试值,两个谐振值进行比对,测试方法更科学,避免测试数据重复性差和测试结果与实际屏蔽效能不相符的问题,从而更好的指导屏蔽服的设计改进和效果评价工作。

实用新型内容

针对上述问题,本实用新型提出一种微波屏蔽服屏蔽效能测试系统,避免谐振状态对测试结果产生的影响。一种微波屏蔽服屏蔽效能测试系统包括混响室、信号发生器、发射天线、人体模型以及接收探头;所述接收探头放在人体模型内部,发射天线与人体模型放在混响室内,信号发生器通过同轴线缆与发射天线相连,信号发生器既可放在混响室外部,也可放在混响室内部。

所述混响室是由高反射材料搭建的屏蔽室。

所述接收探头包括场强探头或者接收天线。

所述混响室可以选择机械搅拌型或频率搅拌型,对于机械搅拌型的混响室,需安装专用机械搅拌装置。

本实用新型的有益效果在于:

1)该装置有效地避免了在谐振状态下对测试结果产生的负屏蔽效能的影响,避免了驻波和谐波的影响,测试数据重复性高,有利于测试方法的推广和实验室之间数据的比对。

2)屏蔽服屏蔽效能测试更为精确,为微波屏蔽服屏蔽效能的评估和改进提供了合理、科学的数据并提供准确的数据支持。

3)测试时不需要吸波材料和大功放,节约了检测成本,相对于电波暗室,混响室的造价更低,测试动态范围更大。

附图说明

附图1为微波屏蔽服屏蔽效能测试系统结构示意图。

具体实施方式

为避免在谐振状态下对测试结果产生的负屏蔽效能的影响,本实用新型提供了一种微波屏蔽服屏蔽效能测试系统,下面结合附图对本实用新型进行详细说明。

附图1为微波屏蔽服屏蔽效能测试系统结构示意图,如图1所示,该系统包括混响室、信号发生器、发射天线、人体模型以及接收探头;所述混响室是由高反射材料搭建的屏蔽室,内表面的反射率比一般比屏蔽室高。所述接收探头放在人体模型内部,发射天线与人体模型放在混响室内,信号发生器通过同轴线缆与发射天线相连,信号发生器既可放在混响室外部,也可放在混响室内部。接收探头可以为场强探头或者接收天线。为了让接收探头所测位置达到谐振状态,有两种实施方式,一种是机械搅拌式测试,一种是频率搅拌式测试,对于机械搅拌型的混响室,需安装专用机械搅拌装置。

此实施例仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

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