[实用新型]倒置式全内反射检测工作平台有效
申请号: | 201720120223.0 | 申请日: | 2017-02-09 |
公开(公告)号: | CN206497041U | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 徐文峰;廖晓玲;徐紫宸 | 申请(专利权)人: | 重庆科技学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 401331 重*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 倒置 式全内 反射 检测 工作 平台 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种一体机的工作平台,更为具体地讲是属于医疗设备体外诊断领域的一种集成化全内反射微流控芯片检测一体机的倒置式检测工作平台。
背景技术
全内反射荧光显微术是近年来新兴的一种光学成像技术,它利用全内反射产生的渐逝场来照明样品,从而致使在百纳米级厚的光学薄层内的荧光团受到激发,荧光成像的信噪比很高。这种方法的成像装置简单,极易和其它成像技术、探测技术相结合。目前已成功的实现100nm甚至更低的空间分辨率。而目前微流控芯片得到了迅速发展,而今天阻碍微流控技术发展的瓶颈仍然是应用方面的问题。全内反射光学检测技术就是一项符合与微流控芯片集成的光学检测技术,目前已经被细胞生物学家和神经科学家广泛应用,成为了细胞-基底接触区域内的丰富的细胞生命活动最强有力的探测方法。如细胞膜内蛋白质的动力学过程,基底附近的细胞骨架,细胞运动等。
全内反射荧光显微技术依赖于斜射光线在两种不同折射率光学介质表面产生的极浅的消逝波。该效应产生的条件是入射介质折射率大于折射介质,并且斜射照射到光学界面时入射角大于全反射临界角。其显微镜技术分为棱镜型和物镜型。对物镜型全内反射荧光显微技术,显微镜的物镜既作为收集样品荧光信号的接受器,同时又作为发生全反射的光学器件。因此,加工难度和生产成本,都比较高。为降低集成化全内反射微流控芯片检测一体机的制造成本,需要一种易于加工,构造简单,成本较低的全内反射检测工作平台。
为解决一种集成化全内反射微流控芯片检测一体机的这一难题,需要我们提供一体机的倒置式检测工作平台的解决方案。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供集成化全内反射微流控芯片检测一体机使用的倒置式检测工作平台。
本实用新型的目的技术方案为:一种倒置式全内反射检测工作平台,由接收装置、载物台和全内反射棱镜组成,其特征在于:接收装置安装在载物台下方的位置处,载物台下方的表面安装有独立、可拆卸的全内反射棱镜。此设计,避免了以往将待检测物与全内反射棱镜加工在一起,检测一次用掉一个全内反射棱镜,造成检测费用很高。现在设计将原来检测耗材的全内反射棱镜改为常用的部件,大大降低了加工和使用成本。在载物台上方的位置处还安装有显微镜镜头装置。接收装置在朝载物台方向的上端,安装有透镜和滤光片,能够接收聚焦和筛选的全内反射荧光信号。显微镜镜头装置按照正置荧光显微镜规格和物镜光路,安装有不同倍数的物镜镜头、可见光及荧光发生器的光路和相应的滤光片,能够实现荧光显微镜和相差显微镜功能。所述载物台正中间部位是上下贯通的长方形的检测窗,在检测窗内边四周加工有上下活动的2mm~10mm宽0.35mm厚的芯片槽。芯片槽的作用在于对于小芯片的放置承载作用,不至于掉出检测窗;以及起到对有凸出芯片底片的检测芯片的下降位置的限位作用,不至于检测芯片朝下凸出载物台的下表面超过检测芯片的1/2厚,保障检测芯片与全内反射棱镜固定后的稳定。放在芯片槽中的检测芯片通过长方形的检测窗长边两端头安装的芯片下卡具和芯片上卡具,将芯片液体检测区待检的一面朝下放置,且能平齐或凸出载物台的下表面,满足实现与全内反射棱镜的紧密贴合。所述载物台下表面在长方形的检测窗的长边两侧,加工有四个棱镜紧固装置;四个棱镜紧固装置通过拉伸紧固连杆与载物台上表面对应加工安装的四个棱镜卡具紧固器相连,夹紧固定载物台下表面的全内反射棱镜。能够将全内反射用的高折射率全内反射棱镜的表平面与检测芯片的芯片液体检测区待检的一面紧贴在一起,保证全内反射光的产生。
上述技术方案中,所述载物台的两侧加工安装有左右传动装置和前后传动装置,保证载物台的灵活位移调整。所述芯片下卡具和芯片上卡具是由透明的、弹性材料加工的,上下夹紧、固定检测芯片。保证了最大限度地不影响检测。芯片下卡具和芯片上卡具的紧固操作,能够通过电动自动化紧固,或通过手动操作紧固。
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