[发明专利]偏光片光学参数的测量方法及测量装置在审
申请号: | 201711483432.2 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108181095A | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 海博 | 申请(专利权)人: | 惠州市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G02B5/30 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;武岑飞 |
地址: | 516000 广东省惠州市仲恺高新技术*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学参数 补偿膜 测量参数 偏光片 测量 入射线偏振光 测量装置 出射光线 第二测量 第一测量 下偏光片 偏光 对偏光片 光学性能 偏光度 暗态 | ||
本发明公开了一种偏光片光学参数的测量方法及测量装置,偏光片包括补偿膜和PVA层,测量方法包括:第一状态下,入射线偏振光依次经过补偿膜和PVA层,获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第一测量参数和第二测量参数;第二状态下,入射线偏振光依次经过PVA层和补偿膜,获取该状态下偏光片出射光线亮度最低和亮度最高时的第三测量参数和第四测量参数;根据第一测量参数、第二测量参数、第三测量参数及第四测量参数中的一个或多个获取偏光片中补偿膜和/或PVA层的光学参数,光学参数包括暗态亮度、对比度、偏光度中的任意一种或多种。本发明能够测量得到偏光片中补偿膜和/或PVA层对偏光片光学参数的影响,从而针对性改善偏光片的光学性能。
技术领域
本发明涉及偏光片技术领域,特别是涉及一种偏光片光学参数的测量方法及测量装置。
背景技术
HDR(High-Dynamic Range,高动态范围图像)规格中要求峰值亮度和暗态亮度,实际要求为对比的层次感及对比度提升。因此,通过降低偏光片的暗态穿透率和提高偏光片的偏光度对提升液晶面板的对比度至关重要。
偏光片是多层膜组合结构,通常包括PVA层、补偿膜等,影响偏光片偏光度的不仅仅只有核心层的PVA层,补偿膜层也会影响偏光度,从而影响液晶面板的对比度。如何理清偏光片的影响膜层很重要,只有理清了影响膜层,才能针对性的去改善优化整体结构,提高偏光度和面板对比度。
常用的液晶面板显示模式为VA模式等,VA显示是一种垂直配向的常黑模式,其上下基板偏光片吸收轴垂直偏贴。在整个显示过程中,偏光片起到至关重要的作用。偏光片吸收与偏光轴垂直方向的光,只让偏光轴方向的光透过,把自然光转变成线偏振光。这种材料都是以膜或板的形式存在,因此常被成为偏光膜或偏光板。
而暗态亮度对液晶面板的对比度影响很大。具体参表1所示:
表1:液晶面板暗态亮度对对比度的影响
亮态 400 400 400 400 400 暗态 0.4 0.3 0.2 0.1 0.05 对比度 1000 1333 2000 4000 8000 对比度比值 100% 133% 200% 400% 800%
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