[发明专利]一种相控阵超声检测能力验证试块组及其使用方法

说明书

本发明涉及无损检测技术，具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组以及使用方法，其包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每个试块上根据厚度设置有数个横通孔以及一对刻槽，提高检测的可靠性。

技术领域

本发明涉及无损检测技术，具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组及其使用方法。

背景技术

相控阵超声检测技术作为一种新的无损检测技术在电力行业中的应用尚处于发展阶段，虽有相控阵超声检测工艺标准GB/T 32563-2016《无损检测 超声检测 相控阵超声检测方法》颁布实施，但相控阵超声检测灵敏度怎么调节及其验证还未具体明确。目前，相控阵超声检测能力验证通常是在制作的典型焊接缺陷试块进行验证。但典型焊接试块要求的规格种类多（待检部件规格的管道均需要制作一个），缺陷制作要求严，缺陷尺寸精度高，缺陷位置控制难度大等问题，且制作成本较高、周期长，对不同规格型号的管道，不具有统一使用性。上述搜索发现的相关设计专利，并未有效推广应用。

现有技术中额验证试块存在的客观缺点：

1、目前无正规的常用能力验证试块。

2、目前使用的典型焊接缺陷样管，存在制作种类多、周期长、成本高，工艺要求严，缺陷尺寸控制难度大等难点，同时样管统一性不强。

3、专利号CN201621045864.6的方案用途与本专利相近，但此专利中试块注重的是表面及根部缺陷的检出效果，且由于设计的角度较多，在满足相控阵超声检测工艺的条件下，试块外形将需要制作的特别长，成本太高，现场操作也不方便，同时设计的本方案仅适用于小径管道。

4、CN201620616251.7专利设计是采用一次波对横孔进行检测，能够实现灵敏度校准，此验证方法在相控阵DAC或TCG曲线制作试块上便能完成，无法验证不同位置的缺陷。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种样式结构简单、操作方便、经济实用的相控阵超声检测能力验证试块，主要用于验证检测工艺是否满足工作要求及验证扫查灵敏度能否满足最小缺陷检出要求。本设计发明的试块，通过相控阵超声检测技术可直观验证工件根部缺陷、近表面缺陷及内部缺陷进行识别，对聚焦法则和扫查灵敏度设定具有很大参考价值，通过对特殊边界的检测工艺修订完善，以达到最佳检测效果。同时，也可以辅助于检测结果的评定，便于缺陷大小、深度、性质的判断；避免了常规需要制作种类繁多的典型焊接样管进行多次试验的情况，从经济、效率、时间等方面均具有明显优势。

本发明采用的技术方案如下：

一种相控阵超声检测能力验证试块组，包括YZ-Ⅰ型、YZ-Ⅱ型、YZ-Ⅲ型、YZ-Ⅳ型和YZ-Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；

所述YZ-Ⅰ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，该YZ-Ⅰ型试块左端设有一个横通孔Ⅰ，YZ-Ⅰ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽Ⅰ1和刻槽Ⅰ2；

所述YZ-Ⅱ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，该YZ-Ⅱ型试块左端有两个平行的横通孔Ⅱ2和横通孔Ⅱ3，YZ-Ⅱ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽Ⅱ1和刻槽Ⅱ2，所述刻槽Ⅱ1和刻槽Ⅱ2连线的中点位置处设有一个横通孔Ⅱ1；