[发明专利]螺旋偏振光场的偏振参数检测系统有效
申请号: | 201711432890.3 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108051090B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 陈书行;高秀敏;王胜峰;钟秋蝉 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根;王晶 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 螺旋 偏振光 偏振 参数 检测 系统 | ||
1.一种螺旋偏振光场的偏振参数检测系统,包括被检测光束导入模块(1)、由光场振幅调制模块(2)和光场波前相位调制模块(3)组成的光场调制环节、光场分析模块(4)、光场聚焦特性分析模块(5)、偏振参数提取输出模块(6),其特征在于:被检测光场经被检测光束导入模块(1)进入光场调制环节,所述光场振幅调制模块(2)将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯振幅分布公式中θ为光束垂直光束光轴平面上坐标点相对于聚焦光学系几何焦点连线与光束光轴的夹角,w为空心高斯振幅分布的束腰半径与聚焦光学系统入瞳半径的比值,P为空心高斯光场的光束级数,NA为聚焦光学系统的数值孔径;所述光场波前相位调制模块(3)把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布公式中α为聚焦光学系统的会聚角,NA=n·sin(α),n为发生聚焦的光路整体所处环境的光学折射率,M为径向余弦演化相位调制参数,所述光场分析模块(4)对光场调制情况进行监测,并将检测偏差反馈给光场振幅调制模块(2)和光场波前相位调制模块(3),用以调制优化;由光场振幅调制模块(2)和光场波前相位调制模块(3)调制后的被检测光场经过聚焦后,通过光场聚焦特性分析模块(5)对焦点区域光强分布进行分析,光场聚焦特性分析模块(5)利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布,将信息传输给偏振参数提取输出模块(6);偏振参数提取输出模块(6)得到光场聚焦特性分析模块(5)传来的焦点区域光强分布信息后,利用矢量光场聚焦特性,根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值。
2.根据权利要求1所述的螺旋偏振光场的偏振参数检测系统,其特征在于:所述光场振幅调制模块(2)为液晶型空间光调制器、渐变镀膜光束转换器、微纳器件光束转换器的一种。
3.根据权利要求1所述的螺旋偏振光场的偏振参数检测系统,其特征在于:所述光场波前相位调制模块(3)为液晶型相位空间光调制器或相位板。
4.根据权利要求1所述的螺旋偏振光场的偏振参数检测系统,其特征在于:所述被检测光束导入模块(1)是反射镜、棱镜、保偏光束转换器的一种。
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