[发明专利]可调整的进入安全传感器

权利要求书

1.一种动态范围传感器装置，包括：

构造成测量和采样来自所述装置外的磁体的磁场的磁场传感器，所述磁场传感器构造成生成基于所述磁体关于所述磁场传感器的第一位置采样的磁场测量结果的第一范围；

用户输入元件，其构造成基于所述磁体关于所述磁场传感器的第二位置来识别磁场测量结果的第二范围，所述第二位置包括所述磁体关于所述磁场传感器的用户限定的位置；以及

构造成执行操作的处理器，所述操作包括：

使用所述磁场传感器来生成磁场测量结果的采样；

将磁场测量结果的所述采样与磁场测量结果的所述第一范围和磁场测量结果的所述第二范围相比较；以及

基于所述比较来识别所述装置关于所述磁体的位置。

2.根据权利要求1所述的动态范围传感器装置，其中所述装置构造成安装到窗的一部分上，且所述磁体构造成安装到所述窗的框架的一部分上，所述装置在所述磁体关于所述磁场传感器的所述第一位置中邻近所述磁体。

3.根据权利要求2所述的动态范围传感器装置，其中所述装置在所述磁体关于所述磁场传感器的所述第二位置中不邻近所述磁体，其中所述用户限定的位置包括所述磁场传感器与所述磁体之间的用户选择的距离。

4.根据权利要求1所述的动态范围传感器装置，其中所述操作还包括：

响应于所述磁体在所述第一位置而生成磁场测量结果的第一采样；

生成与磁场测量结果的所述第一采样对应的磁场测量结果的所述第一范围、与所述第一范围的最大值对应的所述第一采样的最大测量结果、与所述第一范围的最小值对应的所述第一采样的最小测量结果；以及

使磁场测量结果的所述第一范围与所述装置的关闭位置相关联。

5.根据权利要求4所述的动态范围传感器装置，其中所述操作还包括：

接收用户输入以引起所述磁场传感器响应于所述磁体在所述第二位置来生成磁场测量结果的第二采样；

生成与磁场测量结果的所述第二采样对应的磁场测量结果的所述第二范围、与所述第二范围的最大值对应的所述第二采样的最大测量结果、与所述第二范围的最小值对应的所述第二采样的最小测量结果；以及

使磁场测量结果的所述第二范围与所述磁体关于所述磁场传感器的所述用户限定的位置相关联。

6.根据权利要求1所述的动态范围传感器装置，其中所述操作还包括：

确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第一范围内；以及

响应于确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第一范围内而识别所述磁体关于所述磁场传感器在所述第一位置处。

7.根据权利要求1所述的动态范围传感器装置，其中所述操作还包括：

确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第二范围内；以及

响应于确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第二范围内而识别所述磁体关于所述磁场传感器在所述用户限定的位置处。

8.根据权利要求1所述的动态范围传感器装置，其中所述操作还包括：

确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第一范围外且在磁场测量结果的所述第二范围外；

响应于确定磁场测量结果的所述采样在磁场测量结果的所述第一范围外且在磁场测量结果的所述第二范围外而确定磁场测量结果的所述采样小于磁场测量结果的所述第一范围且大于磁场测量结果的所述第二范围；以及

响应于确定磁场测量结果的所述采样小于磁场测量结果的所述第一范围且大于磁场测量结果的所述第二范围而识别所述磁体位于所述第一位置与所述用户限定的位置之间。