[发明专利]显示面板测试系统和显示面板测试方法

说明书

本申请提供一种显示面板测试系统和显示面板测试方法，该显示面板测试系统包含测试端显示基板、待测端显示基板、驱动芯片、和测试端接口电路。测试端显示基板包含显示区和非显示区。待测端显示基板也包含显示区和非显示区。驱动芯片设置于测试端显示基板的非显示区内，并用于依据测试指令产生第一测试信号。测试端接口电路设置于测试端显示基板的非显示区内，用于接收第一测试信号，并用于输出第一测试信号至待测端显示基板，以使待测端显示基板的显示区显示第一测试图样。

技术领域

本公开文件有关一种测试系统及相关的测试方法，特别涉及一种显示面板测试系统及显示面板测试方法。

背景技术

现行业界进行显示面板的点亮测试的做法，是将测试芯片设置在一块为测试芯片量身打造的专用电路板上，再配合柔性印刷电路(flexible printed circuit，FPC)、柔性印刷电路转接板(FPC adapter)、和探针治具等装置将测试芯片产生的测试信号输出至待测试的显示面板中。

然而，制造前述的专用电路板需要使用额外制程掩模，因此降低了传统面板测试系统于应用上的弹性。并且，前述用于输出测试信号的柔性印刷电路以及柔性印刷电路转接板会使得整体的电路复杂度上升，进而提高传统面板测试系统于测试过程中发生故障的几率。

发明内容

有鉴于此，如何提供架构精简且具高应用弹性的显示面板测试系统及显示面板测试方法，实为业界有待解决的问题。

一种显示面板测试系统包含测试端显示基板、待测端显示基板、驱动芯片和测试端接口电路。测试端显示基板包含显示区和非显示区。待测端显示基板包含显示区和非显示区。驱动芯片设置于测试端显示基板的非显示区内，并用于依据测试指令产生至少一测试信号。测试端接口电路设置于测试端显示基板的非显示区内，用于接收该至少一测试信号，并用于输出该至少一测试信号至待测端显示基板，以使待测端显示基板的显示区显示第一测试图样。

一种显示面板测试方法包含下列步骤。提供测试端显示基板和待测端显示基板。设置驱动芯片于测试端显示基板的非显示区域。输入一测试指令至驱动芯片。利用驱动芯片依据测试指令产生至少一测试信号。利用测试端接口电路接收至少一测试信号，其中，测试端接口电路设置于测试端显示基板的非显示区域。利用测试端接口电路将至少一测试信号输出至待测端显示基板。利用待测端显示基板的显示区域显示第一测试图样。

附图说明

为让公开文件的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，附图说明书附图的说明如下：

图1为根据本公开文件一实施例的显示面板测试系统简化后的功能方框图。

图2为图1的显示面板测试系统局部放大后的示意图。

图3为根据本公开文件另一实施例的显示面板测试系统简化后的功能方框图。

图4为根据本公开文件一实施例的显示面板测试方法简化后的流程图。

附图标记说明：

100：显示面板测试系统

101：控制电路

110：测试端显示基板

112：显示区域

114：非显示区域

116：栅极驱动电路

120：待测端显示基板

122：显示区域

124：非显示区域

126：栅极驱动电路

130：驱动芯片

140：测试端接口电路