[发明专利]一种薄膜监测设备

说明书

本发明提供一种薄膜监测设备，其特征在于：包括机架、传送辊、透光率测量部件和厚度测量部件；所述传送辊转动连接于所述机架上，用于传送薄膜；所述透光率测量部件包括相对设置在该薄膜两侧的激光发射器和光强测试仪；所述厚度测量部件包括下测厚辊、上测厚辊、位移组件和位移传感器，所述下测厚辊转动连接于所述机架上，所述上测厚辊位于所述下测厚辊上方，且可在所述机架上转动又可沿所述机架上下滑动，该薄膜位于所述下测厚辊和所述上测厚辊之间，且始终紧贴所述下测厚辊和所述上测厚辊，所述位移组件设置于所述机架和所述上测厚辊之间，且可随所述上测厚辊上下滑动，所述位移传感器设置于所述机架上，用于测量所述位移组件的滑动距离。

技术领域

本发明涉及薄膜加工领域，具体涉及薄膜监测设备。

背景技术

塑料薄膜的使用越来越广泛，其生产工艺包括混料、挤出、收卷等工序。在收卷完成后往往还需要对薄膜进行检测，主要是对薄膜的厚度、透光率等进行检测，以保证薄膜的出厂质量。

但额外的检测工序会影响生产效率，因此如何提高生产效率，又能保证产品质量是本领域技术人员亟待解决的一个问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种薄膜监测设备，能在收卷过程中对薄膜的厚度和透光率进行监测，以提高生产效率，保证产品质量。

为达到以上目的，本发明采用的技术方案为：一种薄膜监测设备，其特征在于：包括机架、传送辊、透光率测量部件和厚度测量部件；所述传送辊转动连接于所述机架上，用于传送薄膜；所述透光率测量部件包括相对设置在该薄膜两侧的激光发射器和光强测试仪；所述厚度测量部件包括下测厚辊、上测厚辊、位移组件和位移传感器，所述下测厚辊转动连接于所述机架上，所述上测厚辊位于所述下测厚辊上方，且可在所述机架上转动又可沿所述机架上下滑动，该薄膜位于所述下测厚辊和所述上测厚辊之间，且始终紧贴所述下测厚辊和所述上测厚辊，所述位移组件设置于所述机架和所述上测厚辊之间，且可随所述上测厚辊上下滑动，所述位移传感器设置于所述机架上，用于测量所述位移组件的滑动距离。

作为优选，所述位移组件包括接触部、复位弹簧和标尺，所述接触部始终接触所述上测厚辊，所述复位弹簧迫使所述接触部紧贴所述上测厚辊，所述标尺穿过所述位移传感器，用于显示所述位移组件的滑动距离。

作为优选，所述激光发射器和所述光强测试仪分别为四个，且沿该薄膜的宽度方向均匀分布。

与现有技术相比，本发明的优点在于：透光率测量部件和厚度测量部件可以在薄膜收卷过程进行透光率测量和厚度测量，可以及时发现产品的质量问题，既提高了生产效率，又保证了产品质量。

附图说明

图1是根据本发明的一个优选实施例的立体结构示意图；

图2是根据本发明的一个优选实施例沿下测厚辊轴线方向的剖视图；

图3是根据本发明的一个优选实施例的图2中A处的放大视图；

图4是根据本发明的一个优选实施例中位移组件的立体结构视图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。

如图1～4所示，本发明的实施例包括机架1、传送辊2、透光率测量部件和厚度测量部件。具体结构如下：

传送辊2转动连接于机架1上，用于传送薄膜100。

透光率测量部件包括相对设置在该薄膜100两侧的激光发射器3和光强测试仪4。激光发射器3和光强测试仪4分别为四个，且沿该薄膜100的宽度方向均匀分布。