[发明专利]探索式手机BUG测试工艺在审
申请号: | 201711328069.7 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108052448A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 万众;涂哲军 | 申请(专利权)人: | 北京易诚高科科技发展有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;H04M1/24 |
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地址: | 100035 北京市丰台*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探索 手机 bug 测试 工艺 | ||
本发明公开了一种探索式手机BUG测试工艺,通过在BUG测试仪中建立以时间为节点相互平行的Log轴、Tag轴、截屏轴和动作轴,并在测试过程中分别将各种截屏图像和操作动作记录在该平行轴上,为后期不同阶段测试过程划分以及疑似BUG出现的等级划分提供了数据支撑,方便了后期分析、定位、复现疑似BUG,明显提高了测试效率和疑似BUG判断的准确性,实现了测试过程和疑似BUG修复过程的良性循环。操作人员测试过程清晰,后期疑似BUG定位准确、复现方便。其测试工艺改变了原有的测试工作模式,简化了操作和记录过程,测试质量明显提高。
技术领域
本发明涉及一种手机测试方法,特别涉及一种以探索式测试方法为基础、以人工标记和复现测试过程为目标的手机BUG测试工艺。
背景技术
随着智能手机的普及以及研发更新过程的加快,对智能手机进行高效、全面的测试就成为手机定型生产和质量保证的一个关键。
在传统测试活动中,通过手工执行用例测试发现手机Bug的数量和质量都在下降,测试过程中疑似Bug不能及时被记录,发现Bug后测试活动被暂停,更多的潜在Bug没有被发现,测试完整性较差,测试效率低,人力、物力、财力消耗大,测试活动成本高。
近年来,探索式测试过程受到人们的青睐,探索式测试(exploratory testing)具有自由的软件测试风格,强调测试人员同时开展测试学习、测试设计、测试执行和测试结果评估等活动,以持续优化测试工作。探索式测试强调依据当前语境(context)选择合适的测试方式,将相关测试学习、测试设计、测试执行和测试结果解读作为相互支持的活动,并行地进行执行,以达到完美的测试过程。
实际上,人脑难以并行地执行多项任务。探索式测试旨在将测试学习、测试设计、测试执行和测试分析做为一个循环快速地迭代,在较短的时间内(如1个小时)完成多次循环,以不断收集反馈、调整测试、优化价值。
在探索式测试思路的启发下,设计一种简单、高效率、有序的手机Bug标记和复现测试流程工艺,改进测试过程,就成为本发明想要解决的主要问题。
发明内容
鉴于上述现有情况,本发明旨在提供一种以时间轴为基础,在不暂停测试活动过程的前提下,通过BUG点自由标记、动作记录、截图采集、疑似BUG提示等手段,将测试过程全程记录,以满足后期BUG复现、测试用例生成以及测试学习、测试结果改进等方面的测试需要,进而提高手机测试效率,降低手机测试成本。
本发明是通过以下技术方案来实现的:
探索式手机BUG测试工艺,具体步骤包括:
步骤1、将待测手机跟单片机控制下的BUG测试仪信号连接。
步骤2、操作人员针对待测手机执行测试任务,BUG测试仪对测试过程进行监控,存储测试过程中待测手机的截屏图像和操作动作,并分别记录在BUG测试仪内设置的以时间为X轴的截屏轴和动作轴上。
步骤3、如操作人员发现有疑似BUG出现,操作人员点击BUG测试仪上的B键,BUG测试仪对其内部以时间为X轴的Tag轴进行字母B1标记,如有多次疑似BUG出现,则进行相应地多次B键点击并标记为B2…Bn,测试过程不断进行,如操作人员没有发现疑似BUG,测试过程继续。
步骤4、操作人员在测试过程中改变思路,操作人员点击BUG测试仪上的L键,BUG测试仪对其内部以时间为X轴的Tag轴进行字母L1标记,如有多次测试思路改变,则进行相应地多次L键点击并标记L2…Ln。
步骤5、当一个测试用例或一个需求用例测试完成时,手机BUG测试结束,BUG测试仪中存储并形成一个以时间为节点的Tag轴、截屏轴和动作轴三轴平行的测试记录。
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