[发明专利]一种服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具

说明书

技术领域

本发明涉及主板阻抗测试技术领域，特别涉及一种服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具。

背景技术

目前主板PCIE信号线阻抗测试比较麻烦，仅适用于测试一条信号线或者少量信号线。首先，需要在原理图中找到测试点，然后结合矢量网络分析仪利用测试探头点测。点测时，不仅要找到测试点，还需要调节测试探头探针间距再进行测试。当主板所有物料都已安装完成，测试时会困难很多。由于PCIE信号线分布密集而且量大，测试点多切密集，以目前测试方法进行测试时，需花费大量时间且易出错。

现有的测试手段进行主板PCIE高速信号线阻抗测试时，存在测试时探针接触不稳定的问题，不仅费时费力，而且效率低下。而主板PCIE信号线的输出方向是一致的，都是从CPU到PCIE插槽或者从PCH到PCIE插槽，因此本发明提出了一种服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具，将主板的信号线引出，在主板外测其PCIE信号线阻抗。

发明内容

本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种简单高效的服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具。

本发明是通过如下技术方案实现的：

一种服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具，其特征在于：包括治具主板和金手指接口，所述治具主板上下两端分别通过金手指接口连接标准PCIE测试接口SLOT槽端，所述治具主板上连接有高速测试探针SMA接口，治具主板通过高速测试探针SMA接口连接到阻抗测试仪；所述治具主板通过高速测试探针SMA接口将标准PCIE测试接口SLOT槽端的m+1对发送信号及对应的m+1对接收信号和n+1对发送信号及对应的n+1对接收信号分别接入阻抗测试仪。

所述治具主板一面设有TX0₁~TXm₁，TX0~TXn测试引出线，另一面设有RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出线；所述TX0₁~TXm₁，TX0~TXn测试引出线和RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出线分别连接各个高速测试探针SMA接口和金手指接口，且测试引出线TX01~TXm1 与TX0~TXn之间以及RX01~RXm1与RX0~RXn之间从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度相等。

所述TX0₁~TXm₁与TX0~TXn测试引出线以及RX0₁~RXm₁与RX0~RXn引出线均为100Ω差分对。

当所述治具主板上端为PCIE X1手指接口时，m为0；当所述治具主板上端为PCIE X4手指接口时，m为3；当所述治具主板上端为PCIE X8手指接口时，m为7；当所述治具主板上端为PCIE X16手指接口时，m为15。

当所述治具主板下端为PCIE X1手指接口时，n为0；当所述治具主板下端为PCIE X4手指接口时，n为3；当所述治具主板下端为PCIE X8手指接口时，n为7；当所述治具主板下端为PCIE X16手指接口时，n为15。

本发明的有益效果是：该服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具，结构简单，简化了测试工序，降低了测试成本，在测试主板阻抗时，能够第一时间精确找到目标信号线，测试其阻抗，节省了测试时间和测试成本，提高了测试效率，简单高效。

附图说明

附图1为本发明服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具主视结构示意图。

附图2为本发明服务器主板PCIE信号线阻抗测试治具后视结构示意图。

附图中，1为治具主板，2为高速测试探针SMA接口，3为治具主板下端金手指接口，4为治具主板上端金手指接口，5为TX0₁~TXm₁，TX0~TXn测试引出线，6为RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出线。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行详细的说明。应当说明的是，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。