[发明专利]一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法

说明书

本发明公开了一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法，通过包括：50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪构建的基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统实现。被测设备置于混响室内，调整混响室发射功率，当接收天线接收功率达到稳定时，读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT；改变混响室发射电磁波频率，重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤，获取全部预设频点的PREP和PEUT后根据测试结果计算小型结构体屏蔽效能。本发明重复测试准确性高，测量便利，受测量器材的制约小，对结构体更改小，且不受被测屏蔽体尺寸限制。

技术领域

本发明涉及一种屏蔽效能测试方法，特别是一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法。

背景技术

屏蔽效能即SE是衡量电子设备结构体电磁屏蔽效能的重要指标。现有电场辐射发射法测试采用内置天线发射，外置天线接收的方法，由于尺寸、内置传感器的种类和参考位置等问题，电场辐射发射法测试小型结构体屏蔽效能缺乏可重复性和可比性。

发明内容

本发明目的在于提供一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法，解决电场辐射发射法测试屏蔽效能缺乏可重复性和可比性的问题。

一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法的具体步骤为：

第一步搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统

基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统，包括：50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪。

接收天线置于混响室内，频谱仪置于混响室外，接收天线与频谱仪通过同轴电缆连接。

第二步测量线缆损耗值

调整混响室发射功率，在频谱仪读取参考天线的接收功率，线缆损耗值为混响室发射功率与参考天线接收功率之差。

第三步测试接收天线与被测设备接收功率

被测设备内置一贯通导线，50欧姆电阻一端接贯通导线，另一端接设备外壳。被测设备通过同轴电缆连接频谱仪另一输入通道。被测设备置于混响室内，调整混响室发射功率，当接收天线接收功率达到稳定时，读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT。

第四步测试全部预设频点功率数据

改变混响室发射电磁波频率，重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤，获取全部预设频点的PREP和PEUT后结束测试。

第五步确定屏蔽效能

利用公式SE＝10lg PREP/PEUT确定各个频点屏蔽效能。

本方法测试过程不受结构体尺寸的限制，对于任意尺寸的结构体都可准确测试其屏蔽效能，且重复测试准确性高。测量便利，受测量器材的制约小；对结构体更改小，不受被测屏蔽体尺寸限制。

具体实施方式

一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法的具体步骤为：

第一步 搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统

基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统，包括：50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪。