[发明专利]一种圆周轨迹轮廓仪及测量方法在审
申请号: | 201711108559.6 | 申请日: | 2017-11-11 |
公开(公告)号: | CN107830833A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 孙阳 | 申请(专利权)人: | 孙阳 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 225300 江苏省泰*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 圆周 轨迹 轮廓仪 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及精密测量领域,尤其涉及一种圆周轨迹轮廓仪及测量方法。
背景技术
现在的普通轮廓仪,只能实现直线轨迹上轮廓的测量,但在现在的零件加工生产中遇到需要测量圆周轨迹上高度和R角等,当采用直线轨迹测量时,结果势必不准确,如果采用三坐标测量的话,有些平面小或形状不是很规则的数据又不能准确的采集,所以需要发明一种能够测量圆周轨迹轮廓的轮廓仪。
发明内容
本发明提供了一种圆周轨迹轮廓仪它可以测量零件圆周轨迹上的轮廓。
本发明提供了一种测量方法,它可以测量零件圆周轨迹上的轮廓。
为了实现该目的,本发明轮廓仪提供了一种圆周轨迹轮廓仪,该轮廓仪包括:测头系统,横臂,立柱,配重,旋转工作转台,转台横向轨道,所述旋转工作台可旋转运动,转台很像导轨可使旋转工作台横向运动,横臂位于立柱上的安装孔内,横臂的一端设有测头系统,横臂的另一端设有配重,立柱固定在轮廓仪基座上。
本发明提供了一种测量方法,该方法包括将旋转工作状态偏移所测轨迹圆的半径,测量时旋转工作台旋转,测头系统采集旋转中的弧度和高度信息,通过运算,得出圆弧面的轮廓图。
本发明具有以下有益效果:本发明实现了圆周轨迹上的轮廓测量。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图2本发明的俯视图。
图3为本发明测量工件圆周轨迹轮廓的示意图。
具体实施方式
本发明提供了一种圆周轨迹轮廓仪,它由旋转工作台1,转台横向导轨2,测头系统3,横臂4,立柱5,配重6,工件7组成。
所述旋转工作台1为圆形工作台,可以旋转运动,转台横向导轨2在旋转工作台1下方,可以实现旋转工作台1的横向运动,旋转工作台1和转台横向导轨2组成一个工作台副,当工件7置于工作台上时,通过该工作台副可实现工件7的旋转和横向运动,测头系统3、配重6分别置于横臂4的两端,横臂4置于立柱5上,立柱5固定在该轮廓仪主体结构上,横臂4两端可上下摆动,从而使测头系统3的探针始终与工件7表面相接处,配重6用于保证测头系统3和横臂4保持平衡。
本发明同时还提供了一种测量方法,如图2所示,使用本发明时先将被测工件7的测量圆弧的和工作台1的外圆校正,保证工作台1外圆和被测圆轨迹的中心同心,然后通过横向导轨2将工作台偏移被测轨迹圆的半径R,此时工作台1旋转,测头系统3反馈高度数据h到上位机上,工作台1将旋转弧度α和偏移半径R上传到上位机,这就得到被测工件表面的瞬时点位坐标,X坐标为h,Y坐标为αR。将旋转工作台转动中所有点连接起来,就得到相应的轨迹(如图3所示),该轨迹就记录下工件中心半径R圆圆弧截面上的轨迹。
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