[发明专利]生成测试传感器数据的方法和设备

说明书

本发明公开了一种生成测试传感器数据的方法和设备。该方法包括：获得初始传感器数据；将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分为若干取值间隔，存在至少一个其中没有中间传感器数据的空缺取值间隔；利用深度生成模型，生成用于补齐空缺取值间隔内的数据的补偿数据；以及根据中间传感器数据和补偿数据，生成测试传感器数据。

技术领域

本发明一般地涉及信息处理技术领域。具体而言，本发明涉及一种能够生成用于测试物联网应用的传感器数据的方法和设备。

背景技术

近年来，物联网(Internet of Things，IoT)应用发展迅猛，越来越多的科技产品开始使用物联网技术，例如智能汽车，智能机器人和智能家居等。IoT应用由传感器和APP程序组成。传感器负责获取传感器数据，而APP程序使用这些传感器数据以实现各种有用的逻辑处理功能。可见，IoT应用的运行依赖于传感器数据。由于适合测试的传感器数据难以获得，所以IoT应用的测试较为困难。

在传统的方法中，测试者仅仅使用真实的传感器来获取传感器数据。但是在大多数情况下，真实传感器获取的数值范围很小，这些数值无法覆盖传感器的完整取值范围。例如，某种真实的温度计可以测量出的范围为-100到100度。但是事实上，若使用该温度计去测量气温，它大概仅能获取-10到40度范围的数据。对于其他的数值范围，该温度计在实际场景下无法获取。因此，无法通过这些真实传感器获取的数据对IoT应用进行充分的测试。

此外，传感器数据的传输会受到网络的影响。但是，通过模拟网络异常来测试IoT应用也较为困难。

为了解决上述问题，本发明提出了一种生成适合用于测试IoT应用的传感器数据的方法和模拟网络异常来测试IoT应用的方法。

发明内容

在下文中给出了关于本发明的简要概述，以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分，也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

本发明的目的是提出一种能够生成适合用于测试IoT应用的传感器数据的方法和设备以及能够模拟网络异常来测试IoT应用的方法和设备。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种生成测试传感器数据的方法，该方法包括：获得初始传感器数据；将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分为若干取值间隔，存在至少一个其中没有中间传感器数据的空缺取值间隔；利用深度生成模型，生成用于补齐空缺取值间隔内的数据的补偿数据；以及根据中间传感器数据和补偿数据，生成测试传感器数据。

根据本发明的另一个方面，提供了一种生成测试传感器数据的设备，该设备包括：获得装置，被配置为：获得初始传感器数据；放大装置，被配置为：将初始传感器数据比例放大得到中间传感器数据，所述中间传感器数据的取值范围大于初始传感器数据的取值范围且小于或等于传感器的量程，所述中间传感器数据的取值范围被划分为若干取值间隔，存在至少一个其中没有中间传感器数据的空缺取值间隔；深度生成模型，被配置为：生成用于补齐空缺取值间隔内的数据的补偿数据；以及生成装置，被配置为：根据中间传感器数据和补偿数据，生成测试传感器数据。

根据本发明的再一个方面，提供了一种对物联网应用进行测试的方法，该方法包括：从预定函数中选择特定函数；根据用户设定计算特定函数的参数；利用具有所计算参数的特定函数，生成测试传感器数据；从所生成的测试传感器数据中抽取测试数据；以及利用所抽取的测试数据对物联网应用进行测试。