[发明专利]一种基于ARM的OLED屏检测补偿方法

说明书

本发明提供了一种基于ARM的OLED屏检测补偿方法，包括以下步骤：S1、ARM主控同时发送开始检测指令给多台ARM子机；S2、ARM子机收到开始检测指令后，向各自控制的机械手发送取OLED屏指令；S3、机械手将OLED屏移动到OLED屏测试工位；S4、ARM子机输出MIPI信号点亮OLED屏；S5、ARM子机发送采集指令给CCD相机；S6、CCD相机对点亮的OLED屏拍照，完成像素数据采集并传送给ARM子机；S7、ARM子机通过图像算法对OLED屏进行补偿，并将结果返回给ARM主控。本发明的有益效果是：可对多台OLED屏进行同步检测，检测效率较高。

技术领域

本发明涉及OLED屏检测补偿方法，尤其涉及一种基于ARM的OLED屏检测补偿方法。

背景技术

由于屏厂在生产OLED屏幕的过程中，因为工艺和原材料的关系，导致了OLED屏幕品质良莠不齐，一次性投产后良率偏低，损失很大。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种可以降低报废率的基于ARM的OLED屏检测补偿方法。

本发明提供了一种基于ARM的OLED屏检测补偿方法，包括以下步骤：

S1、ARM主控同时发送开始检测指令给多台ARM子机；

S2、ARM子机收到开始检测指令后，向各自控制的机械手发送取OLED屏指令；

S3、机械手将OLED屏移动到OLED屏测试工位；

S4、ARM子机输出MIPI信号点亮OLED屏；

S5、ARM子机发送采集指令给CCD相机；

S6、CCD相机对点亮的OLED屏拍照，完成像素数据采集并传送给ARM子机；

S7、ARM子机通过图像算法对OLED屏进行补偿，并将结果返回给ARM主控。

作为本发明的进一步改进，在步骤S7中，ARM子机根据CCD相机采集到的像素数据进行图像算法检测，然后向OLED屏的驱动芯片写入补偿的校准数据，最后将检测结果返回给ARM主控。

作为本发明的进一步改进，在步骤S7中，如果OLED屏的画面一致性差，则进行灰度补偿。

作为本发明的进一步改进，步骤S3包括以下子步骤：

S31、机械手上电初始化；

S32、判断是否收到ARM子机的取OLED屏指令，如果是，则机械手将OLED屏移动到OLED屏测试工位，如果否，则重新执行步骤S32；

S33、机械手回零位；

S34、发送机械手加零成功指令给ARM子机。

作为本发明的进一步改进，步骤S6包括以下子步骤：

S61、CCD相机上电初始化；

S62、判断是否收到ARM子机的采集指令，如果是，则CCD相机对点亮的OLED屏拍照，完成像素数据采集并传送给ARM子机，如果否，则重新执行步骤S62；

S63、CCD相机就绪动作；

S64、发送CCD相机就绪指令给ARM子机。

作为本发明的进一步改进，ARM主控经网口通过交换机与ARM子机通讯。

作为本发明的进一步改进，在步骤S1中，ARM主控同时发送开始检测指令给64台ARM子机。

本发明的有益效果是：通过上述方案，可对多台OLED屏进行同步检测，检测效率较高，对于画面不良品，可以通过补偿来降低不良率，减少原材料浪费。