[发明专利]一种基于ATMEL的触摸按键测试系统及方法

权利要求书

1.一种基于ATMEL的触摸按键测试系统，其特征在于该系统包括有嵌入式处理器、可编程器件CPLD和可编程器件FPGA，

嵌入式处理器，其集成了串口模块，是整个系统的控制核心，上位机通过串口实现和处理器的交互，处理器对上位机的命令进行简单译码，控制相应器件的操作。

可编程器件CPLD，其主要责任是对整个系统进行初始化配置，保存FPGA的配置文件，使得系统掉电以后程序不会丢失；

可编程器件FPGA，其是整个系统的执行者，FPGA接收处理器发送过来的命令和数据信息，对信息进行处理，以编程者设定好的规则向待测器件发送信息，再把器件返回的信息反馈给处理器。

其中，嵌入式处理器连接于所述CPLD，CPLD又连接于FPGA，且嵌入式处理器与FPGA之间还设置有SI5338时钟芯片，以为二者提供时钟信号；所述嵌入式处理器还连接有DDR和FLASH。

2.如权利要求1所述的基于ATMEL的触摸按键测试系统，其特征在于所述嵌入式处理器连接有RS232接口、FE和SFP接口。

3.如权利要求1所述的基于ATMEL的触摸按键测试系统，其特征在于所述FPGA连接有SMA。

4.一种基于ATMEL的触摸按键测试方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

101、开始，系统上电，进行初始化；

102、判断侧视主器件还是从器件；

103、依据测试要求，对主器件或从器件进行测试。

5.如权利要求4所述的基于ATMEL的触摸按键测试方法，其特征在于在所述103步骤中，测试主器件时，具体步骤如下：

10311、用TK构成的界面选择测试项；

10312、运行，传输控制指令和码型数据；

10313、处理器对指令和数据进行处理，FPGA接收码型数据；

10314、判断是否输出激励，否则继续该步骤，是则进行下一步；

10315、DUT接收激励并做出响应；

10316、FPGA监控响应并存储数据，处理器读取数据并进行初步处理；

10317、上位机判断并把结果写入EXCEL文件；

10318、判断测试项是否完成，完成则结束，否则返回10312步骤完成其它的测试项。

6.如权利要求4所述的基于ATMEL的触摸按键测试方法，其特征在于在所述103步骤中，测试从器件时，具体步骤如下：

10321、选择测试项；

10322、运行，传输控制指令和特定数据；

10323、处理器接受指令并做出相应；

10324、FPGA开始工作，等待主器件动作；

10325、FPGA统计主器件信息并告之处理器；

10326、处理器读取FPGA反馈的信息；

10327、上位机对数据进行判断并写入EXCEL文件；

10328、判断测试项是否完成，完成则结束，否则返回10322步骤完成其它的测试项。

7.如权利要求4所述的基于ATMEL的触摸按键测试方法，其特征在于系统测试时，先在上位机编辑好相应的测试码型库，然后运行TCL脚本，通过串口把码型库的内容发送给CPU，CPU再通过总线把内容放到FPGA的buffer里，FPGA接收到CPU的写指令并检测buffer不为空，FPGA于是对码型解析还原为实际的时钟和数据信号，驱动被测试器件进行相关操作，同时FPGA会抓取从器件的应答情况，把相关信息交由处理器传到上位机进行处理，之后判断结果通过TCL写入到EXCEL表格中。

8.如权利要求7所述的基于ATMEL的触摸按键测试方法，其特征在于所述码型数据帧包含有PRED、STRT、OP、PHY AD、REG AD、TA、DATA及IDLE，其中，PRED是帧同步码，在此状态MAC会驱动MDIO向PHY器件送出32个连续的’1’,用于器件的同步通信；STRT是帧开始标志，MAC输出“01”比特通知PHY表示帧操作开始；OP是帧操作码，比特“01”表示此帧为一次写操作请求，比特“10”表示此帧为一次性读操作请求；PHY AD是PHY器件地址，为5bit位宽，每个PHY器件都把自己的地址与这5个bit进行比较，若匹配则响应后面的操作，若不匹配则忽略后面的操作；REG AD是PHY寄存器地址，为5个bit位宽，用来选择PHY芯片内部的32个寄存器中的某个寄存器的地址；TA是状态转换域，共2bit，若为读操作，则第一比特由MDIO模块发送出高阻状态，第二比特由PHY芯片给MDIO信号置‘0’，若为写操作，则MDIO信号由MDIO模块来进行控制，连续输出“10”两个比特；DATA是帧的寄存器数据域，共16比特，若为读操作，则为PHY送到MDIO模块的串行数据，若为写操作则为MDIO模块送到PHY的串行数据；IDLE是帧结束后的空闲状态，此时MDIO无源驱动，处高阻状态。