[发明专利]相控阵天线的近场校准测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种相控阵天线的近场校准测试方法及装置。

背景技术

天线阵列是多个通道的集合。相控阵天线作为一种常见的天线阵列，其内部的每个通道均可单独控制。同时相控阵天线由于其强大的波束电扫功能，灵活且可现场更新的波束赋形能力，正在各个领域开始取代固定波束阵列天线。相控阵天线一般由几十、几百甚至更多的幅度、相位可控通道组成，系统复杂。相控阵天线由于不同通道之间的材料、器件、电路生产工艺等原因，射频传输系数会存在差异。该差异会降低不同通道在远场的合成效率，恶化副瓣，降低天线性能。所以通道误差校准是相控阵天线调试阶段的一项重要工作。

现有的近场校准测试一般采用口径场校准法，通过测试天线辐射的口径场或测试近场后再反演到口径场进行校准。采用口径场校准法测试时，探头与天线距离在1个波长以内，利用伺服系统，驱动探头遍历测试每个通道辐射数据，作为通道误差原始数据，用于校准。

但是，采用口径场校准法无法消除通道耦合的问题，进而造成校准收敛困难，影响测试结果的参考价值。

发明内容

基于此，有必要针对现有的近场校准测试方法无法消除通道耦合，造成校准收敛困难的问题，提供一种相控阵天线的近场校准测试方法及装置。

本发明所提供的技术方案如下：

一种相控阵天线的近场校准测试方法，包括步骤：

若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。

通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。

一种相控阵天线的近场校准测试装置，包括：

通道控制模块，用于在探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。

数据获取模块，用于通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序程序时实现所述相控阵天线的近场校准测试方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述相控阵天线的近场校准测试方法的步骤。

本发明所提供的相控阵天线的近场校准测试方法及装置，在对相控阵天线中的各个通道进行测试时，通过对各个通道的控制，消除通道耦合的能量，提高对相控阵天线的近场校准测试精度和收敛速度。

附图说明

图1为相控阵天线的近场校准测试方法流程图；

图2为通道控制示意图；

图3为一优选实施例的相控阵天线的近场校准测试方法流程图；

图4为探头运行示意图；

图5为相控阵天线的近场校准测试装置模块结构图；

图6为一优选实施例的相控阵天线的近场校准测试装置模块结构图。

具体实施方式

为了更好地理解本发明的目的、技术方案以及技术效果，以下结合附图和实施例对本发明进行进一步的讲解说明。同时声明，以下所描述的实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

在一实施例中，如图1所示，为相控阵天线的近场校准测试方法流程图，包括步骤：

S101，若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。

其中，所述相控阵天线包括一个或多个通道。所述探头在各个通道的采样点间运行，在运行至任意一个通道的采样点时，优选地，所述探头停留在所述采样点预设时间段。所述探头在所述任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。如图2所示，为通道控制示意图，在所述探头运行至通道B的采样点b时，关闭除通道B以外的全部通道，即通道A与通道C。同理，若所述探头运行至通道A的采样点a时，关闭除通道A以外的全部通道，即通道B与通道C。

在本具体实施例中，所述探头选用相控阵天线伺服系统的近场探头。通道天线伺服系统驱动近场探头的运行至任意一个通道的采样点。其中，可以根据不同近场探头的类型，改变所述采样点的位置，即所述探头对相控阵天线进行测试数据采样的位置。在本具体实施例中，所述各通道的采样点为各通道的相位中心。

S102，通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。