[发明专利]用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置

说明书

本发明公开了用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，该检测信息包括与被检测产品有关的检测参数、检测参数的要求、以及包含不满足要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的图片集，修改对应的自动光学检测设备上的检测参数的要求；以及向多个自动光学检测设备发送各自的修改后的检测参数的要求。本发明的方法能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。

技术领域

本发明的实施例涉及设备监控技术，尤其涉及用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置。

背景技术

自动光学检测设备(AOI-Automated Optical Inspection)可应用于具有表面贴装技术(SMT-Surface Mounted Technology)的生产线，以检测生产线上的印刷线路板(PCB-Printed Circuit Board)的贴装质量以及焊点质量。这样，可以在装配过程的早期及时发现有缺陷的PCB，避免将有缺陷的PCB送到装配过程的后期。因此，可以有效地减少由于缺陷造成的成本损失。

由于获得的检测结果只能在AOI设备上进行查看，因此AOI设备的用户不能实时查看所有AOI设备所获得的检测结果。尤其是对于错误的检测结果，用户无法及时做出响应，从而影响了生产效率。

使用AOI设备对产品进行检测时，需要在AOI设备上配置产品的检测参数以及该检测参数应当满足的要求。该要求可用于判断AOI设备上被检测的产品是否合格。然而，当AOI设备发生误测时，需要在AOI设备上修改检测参数的要求，以降低误测率。由于检测参数的要求的修改需要在AOI设备上进行，因此占用了AOI设备，导致AOI设备不能检测产品，从而影响生产的效率。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明的实施例提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置，能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

在本发明的实施例中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。

在本发明的实施例中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。

在本发明的实施例中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，所述方法还包括：显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。

在本发明的实施例中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。