[发明专利]光学系统及自动光学检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及光学领域，特别是涉及一种光学系统及自动光学检测设备。

背景技术

AOI(Automatic Optic Inspection)的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)，采集图像，将测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。

然而，在测试过程中，光源的光强通常会随时间发生变化，例如随时间衰减，从而影响扫描图像的质量，进而影响检测效果。

发明内容

基于此，有必要针对光源的光强随时间发生变化而影响检测效果的问题，提供一种光学系统及自动光学检测设备。

一种光学系统，所述光学系统包括光源；所述自动光学检测设备还包括影像获取装置，且所述影像获取装置用于对待测板进行扫描以得到扫描图像；所述光学系统还包括亮度控制装置；所述亮度控制装置根据所述光源的光强随时间变化的特性，每隔设定时间段调整一次所述光源的光强，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

在其中一个实施例中，所述光源的光强随时间衰减。

在其中一个实施例中，所述亮度控制装置根据所述光源的光强随时间衰减的特性，每隔设定时间段增强一次所述光源的光强。

在其中一个实施例中，所述亮度控制装置包括计时器和光调制模块；所述计时器和所述光调制模块电连接；

所述计时器向所述光调制模块提供实时的时间信息；所述光调制模块根据所述时间信息及所述光源的光强随时间变化的特性识别所述光源当前的光强，并根据所述识别的结果实时调整所述光源的光强，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

在其中一个实施例中，所述光调制模块包括电光调制器和控制单元；所述电光调制器与所述控制单元电连接；并且，所述控制单元与所述计时器连接；

所述电光调制器用于对所述光源进行调制；所述控制单元根据所述时间信息及所述光源的光强随时间变化的特性识别所述光源当前的光强，并根据识别的结果实时调整加载至所述电光调制器的电压，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

一种自动光学检测设备，包括光源及影像获取装置，所述影像获取装置用于对待测板进行扫描以得到扫描图像；所述自动光学检测设备还包括亮度控制装置；所述亮度控制装置根据所述光源的光强随时间变化的特性，每隔设定时间段调整一次所述光源的光强，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

在其中一个实施例中，所述光源的光强随时间衰减。

在其中一个实施例中，所述亮度控制装置根据所述光源的光强随时间衰减的特性，每隔设定时间段增强一次所述光源的光强。

在其中一个实施例中，所述亮度控制装置包括计时器和光调制模块；所述计时器和所述光调制模块电连接；

所述计时器向所述光调制模块提供实时的时间信息；所述光调制模块根据所述时间信息及所述光源的光强随时间变化的特性识别所述光源当前的光强，并根据所述识别的结果实时调整所述光源的光强，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

在其中一个实施例中，所述光调制模块包括电光调制器和控制单元；所述电光调制器和所述控制单元电连接；并且，所述控制单元与所述计时器连接；

所述电光调制器用于对所述光源进行调制；所述控制单元根据所述时间信息及所述光源的光强随时间变化的特性识别所述光源当前的光强，并根据识别的结果实时调整加载至所述电光调制器的电压，以降低检测过程中照射至所述待测板的实际光强与所述光强的初始设定值之间的差值。

上述光学系统及自动光学检测设备具有的有益效果为：在该光学系统及自动光学检测设备中，亮度控制装置根据光源的光强随时间变化的特性，每隔设定时间段调整一次光源的光强，以降低检测过程中照射至待测板的实际光强与光强的初始设定值之间的差值，从而能够改善光源的光强随时间发生变化而影响检测效果的问题，提高了检测的精度。

附图说明