[发明专利]一种笔迹鉴定的系统有效

专利信息
申请号: 201710367525.2 申请日: 2017-05-23
公开(公告)号: CN107239753B 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 刘青;曾永涛;彭亦军 申请(专利权)人: 北京瑞源智通科技有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙) 11583 代理人: 赵文静
地址: 100176 北京市经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 摄像装置 图像信息 测量点 载物台 检材 中央处理控制模块 样本 笔迹鉴定 三维图像 检测 控制摄像装置 样品固定装置 光学放大镜 通讯连接 显示模块 摄像头 摄取 比对 笔迹 真伪 合成 图像 支撑
【权利要求书】:

1.一种笔迹鉴定的系统,包括:

样品固定装置,用来固定待检测的样本或检材;

摄像装置,包括摄像头以及光学放大镜,用于摄取待检测的样本或检材的各测量点的图像,其中测量方向垂直于笔画的书写方向;

载物台,用于支撑摄像装置、调节摄像装置的高度以及角度;

中央处理控制模块,与摄像装置和载物台之间通讯连接,用于控制摄像装置和载物台,并且处理摄像装置所获取的图像信息;以及

显示模块,与中央处理控制模块连接,

其中,处理摄像装置所获取的图像信息包括:

利用所获取的图像信息来合成各测量点的三维图像;

利用所述三维图像来计算各个测量点的参数;以及

根据如下公式,将所获得的待检测的样本和检材的参数进行计算比对,得到相关性系数ρX,Y,并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪:

其中X是样本各个测量点的参数值,Y是检材各个测量点的参数值,μx是样本各个测量点的参数值的平均值,μy是检材各个测量点的参数值的平均值,σx是样本各个测量点的参数值的标准差,σy是检材各个测量点的参数值的标准差,E为数学期望;

其中利用所述三维图像来计算各个测量点的参数包括基于三维视图进行平均化处理获得测量点的二维视图。

2.根据权利要求1所述的系统,还包括置于光学放大镜和待检测的样本或检材之间的光源。

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述载物台还包括用于支撑所述样品固定装置的平面载物台,其能够在平面上移动和转动,以调节所述样本或检材的摄像部位和角度方向。

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述参数为墨迹压痕深度,墨迹压痕深度为测量点的墨迹最高点与墨迹最低点之间的距离。

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述参数为纸张压痕深度,纸张压痕深度为测量点的纸张左右边界最高点与墨迹最低点之间的距离。

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述参数为执笔角度,执笔角度为测量点的墨迹最低点到墨迹左边界或右边界的水平距离与墨迹左右边界之间的水平距离二者的比值。

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述三维视图是通过调节光学放大镜,以改变摄像头和光学放大镜以及待检测检材或样本之间的距离得到各个焦平面图像,并进一步融合而成。

8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述样品固定装置是真空吸附装置或静电吸附装置。

9.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,当ρX,Y大于等于0.5时,判定笔迹为真,否则判定为假。

10.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述样本为至少两个,两个样本上的笔迹为同一人书写,计算两个样本之间的相关系数,并且计算所述检材与两个样本之间的相关系数,进行比较,如果所述检材与上述两个样本之间的相关系数均大于两个样本之间的相关系数,则判定所述检材与所述样本上的笔迹为同一人所写,否则判定为假。

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