[发明专利]一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准方法

说明书

本发明涉及，一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置及方法，该方法基于所述装置，该方法包括：(1)测试太赫兹激光功率计的输入功率与示值电压之间的线性关系；(2)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系，设置一组太赫兹源的工作波长，测试太赫兹激光功率计在不同波长下的校正因子；(3)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系，设置一组环境温度，测试太赫兹激光功率计在不同温度下的校正因子；计算得到温度校正因子β与环境温度T的线性关系；(4)校准太赫兹激光功率计在测试波长和环境温度时的测试功率。本发明提高了太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度，降低太赫兹激光功率计的波长校准误差，提高校准效率。

技术领域

本发明属于太赫兹激光功率测试的技术领域，特别是涉及一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准方法。

背景技术

太赫兹(THz)频段是指频率0.1THz～10THz的电磁波，频率范围宽。太赫兹及其应用技术已经成为科学界的热点领域，在物体成像、环境监测、医疗诊断、射电天文等方面具有重大的科学价值和广阔的应用前景。为了实现宽频率范围太赫兹激光功率的测试，太赫兹激光功率计一般采用热电堆探测器实现太赫兹光电信号的转换。

在现有技术中，太赫兹激光功率的测试中使用的太赫兹激光功率计存在一定的不足：

第一，热电堆探测器的工作性能与环境温度有关，现有的采用热电堆探测器制作的太赫兹激光功率计主要在室温下校准，因此，太赫兹激光功率计在其它环境温度时无法实现太赫兹激光功率的准确测试。

第二，现有技术通过测试热电堆探测器在太赫兹频段部分频率点的光谱响应度，采用插值算法计算热电堆探测器在测试频率点的响应度，实现太赫兹激光功率计的波长校准；然而该测试过程繁琐，校准误差较大。

综上所述，现有技术中对于如何提高太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度的问题，以及如何降低太赫兹激光功率计的校准误差、提高校准效率问题，缺乏有效的解决方案。

发明内容

本发明为了克服现有技术中对于如何提高太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度的问题，以及如何降低太赫兹激光功率计的校准误差、提高校准效率问题，提供一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准方法。实现有效提高太赫兹激光功率计在不同温度的测试准确度，降低波长校准误差，简化校准过程。

为了实现上述目的，本发明采用如下另一种技术方案：

一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置，

该装置包括：太赫兹源、太赫兹衰减器、标准太赫兹功率计、太赫兹激光功率计、环境试验箱和滑动导轨；

所述太赫兹衰减器位于所述太赫兹源发射的太赫兹激光的光轴上；所述滑动导轨与所述太赫兹激光的光轴垂直；所述标准太赫兹功率计和太赫兹激光功率计设置于所述滑动导轨上，将所述太赫兹激光功率计设置于环境试验箱中；所述标准太赫兹功率计和太赫兹激光功率计可沿所述滑动导轨交替移动至所述太赫兹激光的光轴上；所述标准太赫兹功率计和太赫兹激光功率计的光敏面与所述太赫兹激光的光轴垂直；所述太赫兹源发射的太赫兹激光通过太赫兹衰减器之后，垂直入射到标准太赫兹功率计或太赫兹激光功率计。

进一步的，所述太赫兹源输出的激光在0.1THz～10THz可调。

进一步的，所述太赫兹衰减器、标准太赫兹功率计、太赫兹激光功率计的工作频率范围是0.1THz～10THz。

本发明为了克服现有技术中对于如何提高太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度的问题，以及如何降低太赫兹激光功率计的校准误差提高校准效率尚的问题，提供一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置与方法。实现有效提高太赫兹激光功率计在不同温度的测试准确度，降低波长校准误差，简化校准过程。

为了实现上述目的，本发明采用如下一种技术方案：