[发明专利]一种全烟气暴露实验下的烟气剂量学测定方法有效
申请号: | 201710285510.1 | 申请日: | 2017-04-27 |
公开(公告)号: | CN106840945B | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 李翔;崔华鹏;谢复炜;尚平平;华辰凤;刘惠民;谢剑平 | 申请(专利权)人: | 中国烟草总公司郑州烟草研究院 |
主分类号: | G01N5/02 | 分类号: | G01N5/02;G01N15/06;G01N30/02 |
代理公司: | 郑州中民专利代理有限公司 41110 | 代理人: | 姜振东 |
地址: | 450001 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 烟气 暴露 实验 剂量 测定 方法 | ||
1.一种检测全烟气暴露实验下的烟气剂量学测定方法,其特征在于:使用石英微量天平QCM晶片与插入式细胞培养皿Transwell结合,进行全烟气暴露仓内烟气剂量的实时、定量测定;具体步骤如下:
1)全烟气暴露实验
将插入式细胞培养皿放置于全烟气暴露仓内,将石英微量天平晶片放置于Transwell小室的微孔膜上,进行烟气暴露实验,全烟气暴露仓与吸烟机和烟气稀释系统相连接,吸烟机抽吸产生的新鲜烟气经过烟气稀释系统与合成空气混合后,以5 mL/min的流速进入到全烟气暴露仓内,QCM晶片表面与暴露仓内的稀释烟气实时接触;Transwell小室的微孔膜下方可灌注细胞培养液,以模拟实际暴露的微环境;
2)烟气剂量测定—烟气颗粒物质量浓度测定
全烟气暴露仓内的QCM晶片在烟气暴露结束后可取出,进行人工称量,测定QCM晶片表面沉积的烟气颗粒物的质量,QCM晶片进行全烟气暴露后的质量差值除以QCM晶片表面积即可得到暴露仓内的烟气暴露累积浓度;当QCM晶片与电流信号传感器连接时,电流信号传感器可以将QCM晶片在烟气颗粒物沉积下的振动转换为电信号,从而表征暴露仓内烟气的实时质量浓度变化,实现烟气剂量的实时、自动定量监测;
3)烟气剂量测定—烟气烟碱浓度测定
将烟气中的烟碱作为表征烟气剂量的化学标志物,以 QCM晶片表面沉积的烟气颗粒物载带的烟碱浓度来反映全烟气暴露仓内的烟气剂量;
全烟气暴露实验结束后,将暴露仓内Transwell小室微孔膜上的QCM晶片取出,转置于锥形瓶中,加入提取溶液异丙醇或甲醇,于180 rpm下振荡30 min-60 min,经0.22 μm的滤膜过滤后,吸取1 mL滤后溶液加入色谱瓶中,进行气相色谱-质谱GC-MS分析,对烟碱进行定量测定,GC-MS分析条件如下:
进样口温度:260℃;进样体积:2 μL;分流比:10:1;载气:He气,流速:1.0 mL/min;传输线温度:280℃;色谱柱:DB-5MS毛细管色谱柱,规格30 m× 250 μm× 0.25 μm;程序升温条件:起始温度100℃,保持3 min,以8℃/min升至260℃,保持5 min;质谱电离方式:EI电离,70 eV;扫描模式:SIM模式,烟碱m/z 84,正十七烷m/z 57。
2.根据权利要求1所述的检测全烟气暴露实验下的烟气剂量学测定方法,其特征在于:所述测定方法适用于卷烟、电子烟、加热不燃烧卷烟的全烟气暴露实验下的烟气剂量学测定。
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