[发明专利]失效时间校正系统及方法

权利要求书

1.一种用于脉冲速率测量装置的失效时间校正系统，所述系统包括：

a.脉冲计数器，其响应于脉冲而递增，所述脉冲计数器具有可选脉冲计数器读出速率；

b.脉冲计数器读出(PCRO)存储寄存器，其存储紧接之前PCRO计数；

c.脉冲峰值计数器，其也响应于脉冲而递增，所述脉冲峰值计数器具有比除了最快可选脉冲计数器读出速率之外的所有读出速率快的脉冲峰值计数器读出速率；

d.减法器模块，其与所述脉冲计数器及所述PCRO存储寄存器电子通信，所述减法器模块从脉冲计数器读出计数减去所述之前PCRO计数以输出未校正脉冲计数；

e.选择模块，其与所述脉冲峰值计数器电子通信，所述选择模块响应于来自所述脉冲峰值计数器的输入而选择所述脉冲计数器读出速率；

f.多路复用器(MUX)，其与所述减法器模块及所述选择模块电子通信，所述MUX从至少两个失效时间校正变换(DTCT)当中进行选择，所述DTCT对应于所述选定脉冲计数器读出速率；及

g.控制与读出模块，其与所述MUX电子通信，所述控制与读出模块将由所述MUX选定的所述DTCT应用于除以所述脉冲计数器读出速率的所述未校正脉冲计数以输出失效时间校正脉冲速率。

2.根据权利要求1所述的系统，其进一步包含响应于事件而产生脉冲的事件传感器，所述事件传感器包括放大器及信号处理电子元件，所述事件传感器具有已知的每事件失效时间。

3.根据权利要求2所述的系统，其中所述事件传感器包括半导体晶体、闪烁晶体或光转换装置。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述可选脉冲计数器读出速率在1Hz与1kHz之间的范围内。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述脉冲峰值计数器读出速率在100Hz与10kHz之间的范围内。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述选择模块响应于来自所述脉冲峰值计数器的输入及来自所述控制与读出模块的输入而选择所述脉冲计数器读出速率。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述DTCT为方程式及查找表(LUT)中的一者。

8.根据权利要求7所述的系统，其中所述方程式为由所述减法器供应的所述未校正脉冲计数的函数。

9.根据权利要求7所述的系统，其中所述LUT为以下各者中的一者：将输出计数速率变换成输入计数速率的LUT，表项之间具有内插；为每一输出计数速率提供转换常数的LUT，表项之间具有内插；及列举输出计数速率及对应输入计数速率的完整集合的LUT。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述脉冲计数器、脉冲峰值计数器及选择模块实施于现场可编程门阵列(FPGA)中。

11.根据权利要求1所述的系统，其中所述PCRO存储寄存器、减法器模块、MUX、DTCT及控制与读出模块实施于通用微控制器单元(MCU)中。

12.根据权利要求1所述的系统，其中所述脉冲计数器、脉冲峰值计数器及选择模块实施于专用集成电路(ASIC)中。

13.根据权利要求1所述的系统，其中元件a到g实施于现场可编程门阵列(FPGA)中。

14.根据权利要求1所述的系统，其中元件a到g实施于通用微控制器单元(MCU)中。