[发明专利]强光干扰下的光信号检测方法

权利要求书

1.一种强光干扰下的光信号检测方法，其特征在于，包括：

在阵列光探测器的前端设置光衰减模块，以此来提高阵列光探测器响应光功率的线性范围；

当进行光信号检测时，若存在超过预定值的强光干扰时，在光衰减模块的作用下，使阵列光探测器中的部分或全部探测单元输出带有有用信息的信号，然后再进行后级处理；

其中，所述后级处理包括：如果阵列光探测器为PD阵列光探测器，则对被光衰减模块覆盖的图像区域进行提取和区域分割，根据光衰减模块的衰减系数与图像灰度的变化关系，设定不同的图像灰度门限进行信号提取，同时根据不同光衰减模块的衰减系数下数据单元之间的相关关系进行信号检测分析，最后获取有用的数据单元。

2.根据权利要求1所述的一种强光干扰下的光信号检测方法，其特征在于，所述光信号检测检测的光波段包括：可见光波段、红色光波段与紫外光波段。

3.根据权利要求1所述的一种强光干扰下的光信号检测方法，其特征在于，所述阵列光探测器包括：PD、APD和PMT阵列光探测器。

4.根据权利要求1所述的一种强光干扰下的光信号检测方法，其特征在于，所述光衰减模块包括：可变系数衰减片，以及具有渐变孔径尺寸或渐变微孔密度的微孔阵列板。

5.根据权利要求4所述的一种强光干扰下的光信号检测方法，其特征在于，所述微孔阵列板的材质为二氧化硅玻璃或者亚克力，表面涂覆有黑色亚光漆；单个微孔直径在50微米与1毫米范围之内变化。