[发明专利]一种对模拟波形进行分组测量的方法

说明书

一种对模拟波形进行分组测量的方法，包括以下步骤：从模拟波形中，确定参考波形；根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。本发明的优点是：能够根据不同的测量方式来选择参考点，基本思想一致，但具体实现方法不同，因而可适用于多种测量类型；另外，还允许设置测量的位置以及特定的信号阈值，非常灵活，能满足不同用户的各种需求，因而具有良好的可扩展性和实用性。

技术领域

本发明涉及集成电路计算机辅助设计领域，尤其涉及一种模拟波形的测量方法。

背景技术

在集成电路的设计中，仿真过程产生波形后，通常需要计算波形中体现电路特征的各种属性值，以验证仿真结果的正确性，这个过程中会用到很多种测量(Measure)方法。例如，通过电路设计工具的角分析(Multi-Corner)功能产生的多个网表，仿真结束后将产生一组特征相似的波形，如何准确地得出这些波形之间的细微差异，是波形显示器(Viewer)中需要解决的一个重大难题。

波形显示器是用于显示波形信号的数值和形状等特征的工具，它还可以通过各种测量操作(如显示X值、Y值和斜率等)来查看波形的局部细节，以验证仿真结果是否符合要求，是电路设计领域必不可少的工具之一。

在用户使用电路设计工具的角分析功能时，将会根据设置的不同类型的模型信息生成多个网表文件(Netlist)，并顺序进行仿真。仿真结束后，用户需要波形显示器提供对一组信号进行测量计算的功能，如周期(Period)、频率(Frequency)、占空比(Duty Cycle)、脉冲宽度(Width)、时间宽度(Raise/Fall Time)及斜率(Slew Rate)等，并希望波形显示器能够显示测量结果的分布图。

对于大多数的测量计算而言，若只是基于单个波形，都已经有非常确切的定义和成熟的方法，因而很容易实现。但是，将多个波形分为一组进行分组计算时，则涉及到如何选择参考波形并且以此为基础去计算其他波形的测量结果。在仿真过程中，要快速准确地比较一组相似波形之间的细微差异，分组测量(Group Measure)是一个非常实用的功能。

目前，在集成电路仿真领域，比较常用的波形显示器有：Synopsys公司的CustomWaveView、Cadence公司的WaveScan及Silvaco公司的SmartView。但是对于多个模拟波形的分组测量功能，不少波形显示器还在探索阶段。因此，提出一种对模拟波形进行分组测量的方法，成为亟待解决的问题。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种对模拟波形进行分组测量的方法，能够快速且准确地计算出一组测量结果，增强波形显示器(Viewer)的可用性。

为实现上述目的，本发明提供的对模拟波形进行分组测量的方法，包括以下步骤：

1)从模拟波形中，确定参考波形；2)根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；3)根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；4)根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；5)根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。

进一步地，所述参考波形的数目为一个。

进一步地，所述步骤1)进一步包括，根据鼠标点击的位置，确定所述模拟波形中与所述位置最近的波形，并将所述波形作为所述参考波形。

进一步地，所述步骤2)中所述测量类型包括：第一类，周期、频率及占空比；第二类，脉冲宽度；及第三类，时间宽度及斜率。

进一步地，当所述测量类型为所述第一类，周期、频率及占空比时，在所述参考波形中，选择与鼠标点击的位置最近的阈值点作为所述参考点。

进一步地，当所述测量类型为所述第二类，脉冲宽度时，选择鼠标点击的位置作为所述参考点。