[发明专利]DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201611182938.5 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN108205102A 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: 杨旸 申请(专利权)人: 成都锐成芯微科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川省成都市成都高*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 转换芯片 微处理器 自动测试系统 测试模块 通信模块 自动测试 测试 电源模块 负载模块 工作参数 实验电源 输入电压 上位机 工作量 芯片 保证
【说明书】:

发明公开了一种DC‑DC电源转换芯片自动测试系统,包括待测DC‑DC电源转换芯片、与所述DC‑DC电源转换芯片相连用于对所述待测DC‑DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与所述测试模块相连的微处理器、与所述微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与所述微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与所述微处理器相连的通信模块及与所述通信模块相连的上位机。本发明还公开了一种DC‑DC电源转换芯片自动测试方法。本发明能够对DC‑DC电源转换芯片进行自动测试,保证了测试的可靠性和准确性,极大减少了测试人员的工作量。

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域,特别是涉及一种DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法。

背景技术

在集成电路的测试中,为了保证电源芯片的稳定性,往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。

市面上现有的电源自动测试系统主要针对的是大功率开关电源,且多在生产线投入使用,而对于实验室芯片级的DC-DC电源转换芯片的小批量测试中使用时,性价比不高。因此,在对DC-DC电源转换芯片进行测试时,往往通过人工手动测试。

由于DC-DC电源转换芯片的供电线路线损会随负载的增大而增大,使得输入电源电压随负载的增大而降低,故在手动测试过程中需要先使其带上指定负载,再调节输入电压至指定电压,最后再读取此条件下的输入电流及输出电压值,操作不便且效率低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种能够对DC-DC电源转换芯片进行自动测试的DC-DC电源转换芯片自动测试系统及方法。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种DC-DC电源转换芯片自动测试系统,包括待测DC-DC电源转换芯片、与所述DC-DC电源转换芯片相连用于对所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数进行测试的测试模块、与所述测试模块相连的微处理器、与所述微处理器相连用于调整实验电源的输入电压大小的电源模块、与所述微处理器相连用于调整实验负载大小的负载模块、与所述微处理器相连的通信模块及与所述通信模块相连的上位机。

所述上位机向所述微处理器发送控制指令并接收、显示及打印输出所述微处理器反馈的数据,所述控制指令包括电源电压及负载指令。

所述电源模块在所述微处理器的控制下调整实验电源的输入电压的大小,所述负载模块在所述微处理器的控制下调整实验负载的大小。

所述测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器,所述工作参数包括输入电压、输入电流、输出电压及输出电流。

所述电源模块输出电压步进为10mV,所述负载模块电流精度为1mA,所述测试模块电压精度为10mV,所述测试模块电流精度为0.1mA。

一种DC-DC电源转换芯片自动测试方法,包括以下步骤:

上位机初始化;

所述上位机通过通信模块向微处理器发送控制指令;

所述微处理器接收到所述控制指令,控制电源模块输出电压,使得待测DC-DC电源转换芯片开始工作;

所述微处理器控制负载模块;

所述微处理器控制电源模块输出设定电压;

测试模块实时测试所述待测DC-DC电源转换芯片的工作参数并反馈给所述微处理器;

所述微处理器通过所述通信模块将测试结果发送给所述上位机;以及

所述上位机将接收到的测试结果进行显示及打印输出。

所述微处理器控制所述负载模块以保证负载电流稳定在很小的一个范围内波动。

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