[发明专利]光学暗室光学性能检测方法与系统

说明书

本发明提供一种光学暗室光学性能检测方法与系统，识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个所述墙面划设为单个检测区域，对各所述检测区域分别设置检测点，对各所述检测点进行反射率测试，获取各所述检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。整个过程中，采用合理的方式针对光学暗室几何墙面设置检测区域，并且在每个检测区域中设置一定数量的检测点，最终采用评价模型来表征光学暗室光学性能检测结果。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别是涉及光学暗室光学性能检测方法与系统。

背景技术

光学暗室主要广泛应用需要光强度较弱的光学试验，如分布光度计环境，检定照度计、亮度计等光学仪器检定室，光生物安全测试系统实验室等。

目前，在光学测量技术领域，例如JJG 245-2005《光照度计检定规程》、JJG 211-2005《亮度计检定规程》、JJG 212-2003《色温表检定规程》等行业规范中仅标注试验环境为暗室，其并未量化暗室评价与判断标准。

暗室应用场合众多，但是没有统一量化评价标准与方法，无法确定光学暗室光学性能检测结果。

发明内容

基于此，有必要针对目前尚无一种光学暗室光学性能检测方法的问题，提供一种光学暗室光学性能检测方法与系统，对光学暗室光学性能进行量化评价。

一种光学暗室光学性能检测方法，包括步骤：

识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个墙面划设为单个检测区域；

对各检测区域分别设置检测点；

对各检测点进行反射率测试，获取各检测点反射率检测结果；

根据各检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。

一种光学暗室光学性能检测系统，包括：

检测区域划分模块，用于识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个墙面划设为单个检测区域；

检测点设置模块，用于对各检测区域分别设置检测点；

反射率测试模块，用于对各检测点进行反射率测试，获取各检测点反射率检测结果；

结果表征模块，用于根据各检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。

本发明光学暗室光学性能检测方法与系统，识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个墙面划设为单个检测区域，对各检测区域分别设置检测点，对各检测点进行反射率测试，获取各检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。整个过程中，采用合理的方式针对光学暗室几何墙面设置检测区域，并且在每个检测区域中设置一定数量的检测点，最终采用评价模型来表征光学暗室光学性能检测结果。

附图说明

图1为本发明光学暗室光学性能检测方法其中一个实施例的流程示意图；

图2光学暗室为长方体时，其检测区域以及各个检测区域中检测点设置位置示意图；

图3为采用三维评价模型方式表征光学暗室光学性能检测结果的示意图；

图4(a)至图4(i)为在本发明光学暗室光学性能检测方法不同应用实例中检测区域的检测点设置位置示意图；

图5为本发明光学暗室光学性能检测系统其中一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，一种光学暗室光学性能检测方法，包括步骤：

S100：识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个墙面划设为单个检测区域。